Атомно-флуоресцентный анализ

Cтраница 1

Атомно-флуоресцентный анализ близок к атомно-абсорбционному анализу. С помощью этого метода решают не только задачи, выполняемые атомно-аб-сорбционным анализом, он позволяет определить отдельные атомы в газовой среде. [1]

Принципиальная схема проведения атомно-флуоресцентного анализа. [2]

Чувствительность атомно-флуоресцентного анализа при, измерении флуоресценции той же линии, что и линия, используемая для ее возбуждения, ограничивается эффектами рассеяния света частицами аэрозоля. Однако имеются приемы, снижающие это ограничение. При облучении атомного пара таллия светом газоразрядной таллиевой лампы флуоресцентная линия Т1 535 ммк должна быть свободной от рассеянного света, если только свет газоразрядной лампы пропустить через фильтр, выделяющий линию Т1 378 ммк. [3]

Установка для атомно-флуоресцентного анализа включает те же блоки, что и установка для атомно-аб-сорбционного анализа, а именно: интенсивный источник резонансного излучения, служащий для оптического возбуждения атомов определяемого элемента, пламя, играющее роль аналитической ячейки, и спектральный прибор с фотоэлектрической регистрацией, установленный под прямым углом к направлению падающего на пламя пучка света и служащий для измерения флуоресценции атомов в пламени. [4]

Экспериментальный ( слева и теоретический ( справа графики зависимости интенсивной резонансной флуоресценции от концентрации элемента. [5]

Кратко основы атомно-флуоресцентного анализа сводятся к следующему. Энергия флуоресценции ( Рф) пропорциональна поглощенному резонансному излучению ( Рабс), что выражается соотношением Рф хЯабс, где х - квантовый выход флуоресценции. [6]

Изложены методики и приемы атомно-флуоресцентного анализа различных химических объектов с целью определения в них малых примесей различных элементов. Уделено внимание теории метода, проведено его сопоставление с другими спектрально-аналитическими методами. Рассмотрены основные данные по возбуждению и регистрации спектров флуоресценции. [7]

Схема расположения приборов для проведения атомно-флуоресцентного анализа показана на рис. И. [8]

Резюмируя изложенный материал, авторы работ [54, 55] отмечают, что атомно-флуоресцентный анализ очень перспективен, и высказывают уверенность, что его применение в ряде случаев обеспечит большую чувствительность определения, чем эмиссионный и атомно-абсорбционный методы анализа. [9]

Предлагаемая вниманию читателей книга посвящена, в основном, применениям атомно-флуоресцентного анализа ( АФА) к решению химико-аналитических задач. Она является продолжением опубликованной в 1980 г. книги автора Атомно-флуо-ресцентный анализ. Однако, учитывая ограниченность на русском языке литературы по этому вопросу, было сочтено целесообразным предпослать изложению отдельных методик краткое описание основных принципов и закономерностей АФА, что дает возможность читателю пользоваться независимо обеими книгами. [10]

Источником возбуждения, который, по-видимому, позволяет решить много проблем в атомно-флуоресцентном анализе, является непрерывно перестраиваемый по длинам волн лазер. В настоящее время такими лазерами являются лазеры на красителях ( см. Приложение 1), которые обладают следующими уникальными особенностями. [11]

Пламена наиболее часто применяют как в пламенной фотометрии, так и в атомно-абсорб-ционном и атомно-флуоресцентном анализе. [12]

Принципиальная схема проведения атомно-флуоресцентного анализа. [13]

Указанные лампы имеют значительную емкость и, по-видимому, наиболее пригодны для целей атомно-флуоресцентного анализа. Что касается ламп с полым катодом и источника сплошного излучения, то, вероятней всего, они малопригодны ввиду их низкой яркости. [14]

Если принять во внимание все эти соображения, то легко понять, почему импульсные перестраиваемые лазеры на красителях [6-8] могут стать инструментом, помогающим решить большое число проблем в атомно-флуоресцентном анализе. На самом деле, лазер на красителе обладает следующими уникальными характеристиками: 1) излучением, непрерывно перестраиваемым в видимой области спектра, а при использовании удвоения частоты вплоть до 250 нм; 2) чрезвычайно высокими пиковыми мощностями излучения, порядка нескольких десятков киловатт; 3) высокой степенью когерентности, как пространственной, так и временной, что приводит к очень высоким плотностям мощности ( малый размер пятна) и малой ширине линии ( монохроматичность); 4) при импульсном режиме очень низкой скважностью, что позволяет достичь максимального значения отношения сигнал / шум при использовании стробирующей аппаратуры для систем с ограниченным фоновым шумом. [15]

Страницы: 1 2