Рентгеновское поглощение
Cтраница 2
Термин EXAFS ( сокращение от английских слов extended X-ray absorption fine structure протяженная тонкая структура рентгеновского поглощения - ТСРП) описывает осциллирующие модуляции коэффициента поглощения рентгеновского излучения в области энергии выше края поглощения ( - 1 кэВ) атомов, присутствующих в данном веществе. Атом, у которого энергия края спектра поглощения меньше, чем энергия поглощаемого излучения, испускает фотоэлектрон. Этот электрон возвращается назад к испустившему его атому, будучи рассеянным соседними атомами. ТСРП появляется благодаря эффекту интерференции между испускаемым и рассеянным электроном. [16]
Тотже метод применили [8] для установления конфигурации бромгидрата изолейцина, используя Ьа-излучение урана, которое совпадает с краем рентгеновского поглощения атома брома. [17]
Следует четко различать поглощение ( или испускание) рентгеновского излучения определенным элементом, находящимся в образце в свободном или связанном состоянии, от рентгеновского поглощения ( или испускания) всем образцом. [18]
 |
Определение абсолютной конфигурации. [19] |
Чтобы получить фазовый сдвиг при отражении от А ( но не Гот В), надо использовать рентгеновские лучи, длина волны которых близка к краю рентгеновского поглощения атома А. [20]
Так как ji - / ( Е), то из уравнения ( 3) следует, что контрастность тем больше, чем меньше будет энергия выбранного рентгеновского излучения. Это означает, что для хорошего рентгеновского поглощения следует выбирать возможно меньшее напряжение трубки и возможно большую силу тока. [21]
Рассмотрим простейший случай молекулы, в которой изучаемый атом или ион имеет структуру благородного газа и не относится к переходным элементам с дефектами в строении электронных оболочек. В этом случае система, образующаяся в процессе рентгеновского поглощения, состоящая из вырванного из К-оболочки электрона и взаимодействующего с ним ядра атома, окруженного устойчивой электронной оболочкой, может приближенно рассматриваться как водородоподобный атом и относительно просто поддается расчету. Для проверки выводов теории можно воспользоваться экспериментальными данными, относящимися к К-краям поглощения благородных газов, которые в настоящий момент достаточно хорошо изучены. [22]
В связи с этим форма К-края поглощения в общем случае может представлять собой результат наложения друг на друга абсорбционной полосы ( истинного края поглощения) и группы селективных линий поглощения. Последние будут располагаться с длинноволновой стороны границы истинного края рентгеновского поглощения и приводить к появлению его тонкой структуры. [23]
Надежной основой для определения конфигурации оптически активных соединений с асимметрическим атомом углерода являются данные специального рентгенографического анализа с использованием тяжелого атома, вводимого в молекулу. При этом используют Рентгеновы лучи с длиной волны, близкой к краю рентгеновского поглощения тяжелого атома, введенного в молекулу в качестве метки. В результате на обычную дифракцию накладывается фазовый сдвиг и рентгенограммы оптических антиподов становятся неидентичными. За два десятка лет, прошедших со времени открытия рентгенострук-турного метода определения абсолютной конфигурации соединений, благодаря применению автоматических дифрак-тометров и ЭВМ рентгенографические исследования существенно упростились, а время, необходимое для их проведения, существенно сократилось. [24]
Надежной основой для определения конфигурации оптически активных соединений с асимметрическим атомом углерода являются данные специального рентгенографического анализа с использованием тяжелого атома, вводимого в молекулу. При этом используют Рентгеновы лучи с длиной волны, близкой к краю рентгеновского поглощения тяжелого атома, введенного в молекулу в качестве метки. В результате на обычную дифракцию накладывается фазовый сдвиг и рентгенограммы оптических антиподов становятся неидентичными. За два десятка лет, прошедших со времени открытия рентгенострук-турного метода определения абсолютной конфигурации соединений, благодаря применению автоматических дифрак-тометров и ЭВМ рентгенографические исследования существенно упростились, а время, необходимое для их проведения, существенно сократилось. [25]
В случае более тяжелых и, в частности, переходных элементов семейства железа эти смещения оказываются крайне незначительными, и главным объектом исследования становятся изменения тонкой структуры основного края поглощения атома при вступлении его в различные химические соединения. Считается, что одним из важнейших условий, определяющих успех исследования тонкой структуры основного края рентгеновского поглощения, является удачный выбор толщины твердого абсорбента или создание соответствующей плотности атомов в объеме кюветы при изучении краев поглощения атомов в молекулах газа или в растворах. Поэтому Сангстрем [13] и Куриленко [97] предложили две отличающиеся друг от друга формулы для подсчета оптимальной толщины абсорбента. [26]
В последнее десятилетие значительно усовершенствованы и широко внедряются в технологическом потоке приборы для анализа состава. Наглядным примером является хроматография, которая очень широко используется для анализа состава и значительно сокращает его время. Инфракрасный анализ также значительно усовершенствован, разработано и используется в технологическом потоке довольно сложное оборудование, действие которого основано на принципе рентгеновского поглощения и даже электронной микроскопии. Сейчас достигнут значительный прогресс в создании измерительной аппаратуры. Однако еще многое нужно сделать для расширения области применения приборов, повышения их точности и скорости измерений, с тем чтобы можно было выгодно использовать управляющие ЦВМ на многих заводах. [27]
Если толщина образца близка к нулю, влияние наполнителя отсутствует, и уравнение ( 79) должно выполняться. Возможные отклонения от формулы ( 79) обусловлены в конечном счете поглощением рентгеновского излучения. Так как рентгеновское поглощение в этом предельном случае незначительно ( практически энергия тратится только на возбуждение аналитической линии), то отклонений от уравнения ( 79) не должно быть. [28]
 |
Чувствительность резистов к электронно - - му ( 20 кВ и рентгеновскому излучению. Ю. [29] |
Однако он имеет низкую адгезию, недостаточную для использования в литографии. Рентгеновское поглощение атомов хлора лежит вблизи 0 44 нм, что соответствует излучению линии La палладия - 0 437 нм, в большинстве случаев используемой в экспозиционных устройствах [ пат. Известны и другие композиции на основе ПДХПА. Наибольший интерес представляют смеси ПДХПА с сополимерами глицидилметакрилата с этилакрилатом, аллилметакрилата с гид-роксиэтилметакрилатом. Подробно изучена в качестве рентгеноре-зиста смесь 92 5 % ПДХПА и 7 5 % бис ( акрилоилксибутилтетра-метилдисилоксана) [134], который проявляется плазмой. Выявлено существенное влияние термического доотверждения слоя резиста на разрешение и чувствительность. [30]
Страницы: 1 2 3