Cтраница 3
Методическая погрешность этого преобразователя имеет малую величину: при тактовой частоте 10 кГц и коэффициентах мощности, изменяющихся в пределах 0 1 - 1, она составляет десятитысячные доли процента. [31]
Методическая погрешность, как правило, уменьшается при увеличении тактовой частоты, а инструментальная увеличивается. [32]
Методические погрешности в первую очередь связаны с деформацией импульсов при распространении по линии и косвенным характером измерений. В этой главе только указанным погрешностям и будет уделено внимание. [33]
Методическая погрешность, связанная с отклонением реальной фигуры Земли от шара, в высокоточных системах оказывается недопустимой. Эта погрешность резко уменьшается, если модель Земли принять в виде сплюснутого эллипсоида вращения. В этом случае необходимо правильно учесть ее гравитационное поле, отличающееся теперь от центрального, и правильно сформировать угловые скорости, обеспечивающие горизонтирование платформы или аналитического трехгранника. [34]
![]() |
Схема измерения больших сопротивлений при помощи магнитоэлектрического гальванометра. [35] |
Методическая погрешность, обусловленная собственным потреблением приборов, может быть учтена, если известны сопротивления приборов. [36]
Методические погрешности физо-френелевских оптических преоб-1 рзоватслем расхода обусловливаются непостоянством показателя преломления измеряемой среды и отличием скорости, осредненной по длине л ча. Эти погрешности трудпсучптываемы и вызывают необходимость градуировки оптических преобразователей расхода в рабочих условиях. [37]
![]() |
Условная плотность распределения погрешности.| Плотность распределения системы случайных величин х и Д (. [38] |
Методические погрешности возникают из-за несовершенства метода измерения, а также из-за приближений, допускаемых при проектировании прибора. [39]
Методические погрешности не зависят от качества изготовления прибора, они одинаковы для всех образцов данного типа. [40]
Методическая погрешность, вызванная влиянием сопротивления нагрузки, в общем случае определяется соотношением сопротивлений преобразователя и нагрузки и в различных измерительных цепях проявляется по-разному. [41]
Методические погрешности, обусловленные отличием алгоритма, реализованного в ИВК, от номинального алгоритма, заложенного в методе идентификации. [42]
Методические погрешности определяются несовершенством метода измерения, недостаточным учетом всех обстоятельств, сопровождающих измерения, а также приближениями, допускаемыми при проектировании прибора. Методические погрешности не зависят от качества изготовления прибора, они одинаковы для всех образцов данного типа прибора. [43]
Методические погрешности обусловлены несовершенством выбранного метода измерений, а инструментальные погрешности - несовершенством материалов, конструкции и точности изготовления элемента. [44]
Методические погрешности возникают вследствие несовпадения оси чувствительности и направления действия ускорения. [45]