Cтраница 3
Наиболее часто применяется первый вариант, поскольку при нем погрешность определяется без создания самого приборного устройства. Для экспериментального определения погрешности схемы необходимо изготовить группу однородных приборов с примерно одинаковыми параметрами элементов, так чтобы выделить в качестве доминирующей погрешности погрешность схемы. Очевидно, что это дорого и при этом нельзя достичь высокой точности оценки погрешности схемы. [31]
Суммарная погрешность обработки может быть определена путе л установления математических зависимостей погрешностей от 4 акторов, их определяющих, и вычисления отдельных составляющих. При этом целесообразно ограничить вычисление суммарной погрешности путем определения основных составляющих. Мно - ие из этих погрешностей при рассмотрении конкретного устр шства оказывают незначительное влияние на комплексную погрешность обработки, однако в каждом конкретном случае может быть свой комплекс доминирующих погрешностей. [32]
Некритичность измерительных схем с коммутационно-модуляционными преобразованиями к случайным изменениям параметров элементов позволяет строить измерительные устройства высокой точности из стандартных блоков без специального отбора и тренировки. Это позволяет использовать функционально-узловой метод конструирования измерительных приборов, широко применяемый при проектировании радиоэлектронной аппаратуры массового применения. С учетом этой тенденции в проектировании и ограниченного объема книги приводятся только функциональные схемы приборов для измерения параметров сигналов или характеристик цепей с обоснованием коммутационных алгоритмов, позволяющих исключить доминирующую погрешность для рассматриваемого типа электронного прибора. Наличие широкой номенклатуры микросхем с широкими функциональными возможностями позволяет реализовать эти алгоритмы не только при проектировании новых приборов, но и в исследовательской практике, когда отсутствуют серийные приборы требуемых типов. [33]