Cтраница 1
Дрейфовые подвижности определяются совершенно другим методом. Электронно-дырочные пары образуются на поверхности полупроводника под действием освещения, а к материалу приложено поперечное электрическое поле. [1]
Дрейфовая подвижность определялась вдоль оси c t перпендикулярно плоскости аЬ монокристалла. [2]
Зависимость дрейфовой подвижности электронов и дырок от проводимости показана на фиг. [3]
Впервые измерения дрейфовой подвижности носителей заряда были выполнены американскими учеными Дж. Шокли в 1949 г. Схема установки показана на рис. 3.1. Образец германия, на котором производятся измерения, представляет собой прямоугольную пластину. На поверхности образца на расстоянии s установлены два металлических зонда. Образец закрепляется на столике микроскопа. Установка зондов производится с помощью винтовых устройств, расстояние между зондами измеряется по шкале микроскопа. [4]
В результаты измерения дрейфовой подвижности существенные искажения могут вносить уровни прилипания. При наличии этих уровней неосновные носители по пути к ко У лектору захватываются ими и затем тепловым движением выбрасываются обратно в зону. Очевидно, что определяемое в этих условиях время t0 будет завышено на время пребывания носителей на уровнях прилипания. [5]
Эксперименты по определению дрейфовой подвижности пригодны, в частности, для проведения измерений в Ge и Si. В тех случаях, когда такие опыты неприменимы вследствие малого времени жизни избыточных пар дырка - электрон, можно провести измерения эффекта Холла. [6]
Холла, пропорциональна дрейфовой подвижности. [7]
Холла, пропорциональна дрейфовой подвижности. [8]
В отличие от дрейфовой подвижности носителей заряда, которая определяется путем измерений времени дрейфа неравновесных носителей заряда в электрическом поле, в данном случае значение подвижности носителей заряда, вычисляемое из соотношения Эйнштейна, представляет собой амбиполярную диффузионную подвижность. [9]
Температурная зависимость подвижности дырок в кремнии, легированном бором. з. [10] |
Сущность метода измерения дрейфовой подвижности неосновных носителей заряда заключается в следующем. В некоторый момент времени через точечный эмиттерный контакт Э в обра-зец инжектируются неосновные носи-тели заряда. [11]
Вычисленные таким способом значения дрейфовой подвижности тем ближе к истинным значениям, чем меньше избыточная концентрация носителей заряда. Это связано с нарушением однородности электрического поля, возникающим в результате модуляции проводимости образца неравновесными носителями заряда. Поэтому для точного определения дрейфовой подвижности измеряют время дрейфа при уменьшающемся токе эмиттера. Затем строят зависимость дрейфовой подвижности от тока эмиттера и экстраполируют ее к нулевому току эмиттера. Из этого графика находят точное значение дрейфовой подвижности носителей заряда. [12]
Определенные этим методом значения дрейфовой подвижности будут тем ближе к истинным значениям, чем при меньшем уровне инжекции они получены. Это объясняется тем, что ин-жекция носителей заряда в некоторую область образца приводит к изменению проводимости образца в этой области и, следовательно, к нарушению однородности электрического поля образца, которое трудно учесть. Поэтому для более точного определения подвижности носителей заряда проводится серия измерений при разных уровнях инжекции. Эти данные затем можно экстраполировать к нулевому уровню инжекции и получить точное значение подвижности неосновных носителей заряда. [13]
Так, средняя величина дрейфовой подвижности в МББА составляет Ю-5 см2 - с-1 - В 1 ( 20 - 25 С) [18], причем такая же цифра в [19] приводится как типичная. По-видимому, в экспериментах по измерению времени пробега ионов между электродами в электрическом поле серьезную роль играют гидродинамические процессы. Нижний предел соответствует истинной подвижности ионов. [14]
Существующие модификации метода измерения дрейфовой подвижности отличаются от изложенного способами генерации и регистрации неравновесных носителей заряда. [15]