Cтраница 1
Логарифмическая ползучесть слабо зависит от температуры испытания и приложенного напряжения. Ее практическое значение мало, поскольку величина удлинения при реальных для конструкций напряжениях обычно мала, быстро стабилизируется во времени и не вызывает опасности нового ее существенного роста даже при очень длительных выдержках. [1]
Логарифмическая ползучесть является неустановившейся: скорость ползучести непрерывно изменяется ( уменьшается) со временем. Заканчивается кривая высокотемпературной ползучести участком разрушения CD, до которого при испытаниях на ползучесть никогда не доходят. Кривые ползучести, подобные OA BCD, типичны для условий стандартных испытаний на ползучесть. [2]
Испытаний в области логарифмической ползучести для практических целей обычно не проводят. [3]
Считается, что в процессе логарифмической ползучести достаточно полный термический возврат не успевает проходить. [4]
![]() |
Параметры кинетических зависимостей длительной прочности пленок. [5] |
Для более низких температур испытания характерна логарифмическая ползучесть, которая проявляется уже при 0 С. [6]
Для неустановившейся ползучести из табл. 1 зависимостей S ( t) видно, что отвечающая логарифмической ползучести асимптотика 6e ( t) ос S ( t) - t - l может реализоваться только при логарифмически медленном нарастании высоты фрактального рельефа в сильно иерархических системах и при степеннбм - в слабо иерархических. Кроме того, легко убедиться, что экспоненциальному нарастанию Фе ( и) высоты рельефа в ультраметрическом пространстве отвечает линейное увеличение термодинамического потенциала с ростом геометрического объема. [7]
Уилкокс и Клауэр [87] при исследовании композита магниевый сплав - нержавеющая сталь установили, что неупрочненной матрице присуща стационарная ползучесть, а изолированной проволоке и упрочненной матрице - логарифмическая ползучесть. [8]
По такому закону протекает ползучесть алюминия, меди, Nad и других веществ при Т 200 К. Как правило, логарифмическая ползучесть наблюдается для пластичных материалов, у которых силы Пайерлса - Набарро невелики. [9]
Именно поэтому низкотемпературная ползучесть получила название логарифмической. С течением времени логарифмическая ползучесть быстро затухает. [10]
Авторы статьи Физические основы ползучести рассматривают явление лолзучести в температурной области выше 0 5 от температуры плавления. В этих условиях проявляются два основных вида ползучести 1: высокотемпературная ползучесть, или ползучесть с возвратом, и диффузионная ползучесть. Скорость для указанных видов ползучести ( в отличие от низкотемпературной логарифмической ползучести) зависит как от напряжения, так и от температуры, что чрезвычайно осложняет детальный анализ структурных процессов; вследствие этого связь между основными параметрами ползучести до сего времени отображается полуэмпирическими соотношениями. [11]
Переход к стадии высокотемпературной ползучести связан с изменением механизма и резким повышением скорости процесса. Возможность при температурах выше 0 5 Тпл переползания дислокаций через препятствия, имеющиеся в материале до нагружения или возникающие при пластической деформации, заметно повышает интенсивность процессов возврата. Развитие этого механизма приводит к тому, что процесс не ограничивается неустановившейся стадией, как при логарифмической ползучести, а переходит в стадию установившейся, а затем ускоренной ползучести уже при сравнительно невысоких напряжениях. [12]
При напряжениях, меньших акр, протекает процесс обратимой ползучести ( последействия), идущий с весьма малой деформацией и обычно не учитываемый. При температурах меньших 0 5 Тпл, но напряжениях выше окр, устанавливается низкотемпературная ползучесть, имеющая неустановившийся характер. Так как зависимость деформации от времени для этого вида ползучести выражается логарифмической функцией, то она называется логарифмической ползучестью. Ее скорости малы, а механизм связан с флуктуациями термических напряжений до уровня, способного вызвать дополнительную пластическую деформацию с течением времени. Поскольку с возрастанием деформации флуктуации напряжений приводят к дополнительному упрочнению материала, с ростом деформации ее дальнейшее протекание все более затухает и скорость ползучести снижается. В этом случае можно полагать, что процесс логарифмической ползучести при таких высоких напряжениях приводит к образованию шейки в образце, что и вызывает разрушение в отличие от затухания процесса деформирования при умеренном уровне напряжений. [13]
Параграф 5 посвящен исследованию иерархических дефектных структур, возникающих в процессе развитой пластической деформации. Эволюция системы дефектов представлена как немарковская цепь термофлуктуационных скачков по минимумам фрактального рельефа, отвечающего термодинамическому потенциалу дефектной кристаллической структуры. Установившаяся ползучесть связывается с атермическим преодолением барьеров. Выяснена природа критического замедления при логарифмической ползучести. Найдены возможные виды временнбй зависимости деформации. Исходя из картины потенциального рельефа многоуровневой системы, делается вывод о фрактальной природе иерархически соподчиненной дефектной структуры. Для ее описания вводится ультраметрическое пространство состояний, точки которого отвечают отдельным ансамблям дефектов, образующих неэргодическую систему. Структурная релаксация представлена как диффузия в ультраметрическом пространстве. [14]
При напряжениях, меньших акр, протекает процесс обратимой ползучести ( последействия), идущий с весьма малой деформацией и обычно не учитываемый. При температурах меньших 0 5 Тпл, но напряжениях выше окр, устанавливается низкотемпературная ползучесть, имеющая неустановившийся характер. Так как зависимость деформации от времени для этого вида ползучести выражается логарифмической функцией, то она называется логарифмической ползучестью. Ее скорости малы, а механизм связан с флуктуациями термических напряжений до уровня, способного вызвать дополнительную пластическую деформацию с течением времени. Поскольку с возрастанием деформации флуктуации напряжений приводят к дополнительному упрочнению материала, с ростом деформации ее дальнейшее протекание все более затухает и скорость ползучести снижается. В этом случае можно полагать, что процесс логарифмической ползучести при таких высоких напряжениях приводит к образованию шейки в образце, что и вызывает разрушение в отличие от затухания процесса деформирования при умеренном уровне напряжений. [15]