Положение - поверхность
Cтраница 3
Размеры, определяющие положение поверхности, можно не проставлять, если они ясны из чертежа. [31]
 |
Основные типы кристаллических решеток у ферромагнетиков.| Обозначение направлений и плоскостей в кристаллах индексами Миллера [ IMAGE ], Кривые намагничивания кристалла железа по разным осям. [32] |
Индексы, определяющие положение поверхностей, заключают в круглые скобки, а индексы, определяющие направления, - в квадратные. У кристалла железа этими осями являются направления [100] ребер куба элементарной ячейки. [33]
 |
Зависимость минимально необходимого класса чистоты поверхности от допуска. [34] |
Размеры, определяющие положение поверхности, подлежащей покрытию, можно не проставлять, если они ясны из чертежа. [35]
Свободные размеры определяют положение поверхностей деталей, которые входят в непосредственный контакт с поверхностями других деталей и не влияют на характер соединения деталей. При выполнений эскиза и чертежа по эксизу необходимо в графе основной надписи, специально для этого предназначенной, написать из какого материала должна быть выполнена или уже выполнена деталь. [36]
Таким образом, положение изоконцентратной поверхности зависит от способа изменения диффузионного потока. [37]
Размеры, определяющие положение симметрично расположенных поверхностей у симметричных изделий, наносят, как показано на черт. [38]
После того как исправленное положение спектральной поверхности рассчитано, производится установка, которая снова проверяется тем же методом. При работе этим способом, впрочем, как и другими, нужно следить, чтобы все действующее отверстие спектрального прибора было заполнено светом источника. На практике этим методом пользуются редко, поскольку не во всех приборах удобно перемещать шторки перед объективом в промежутке между двумя экспозициями. Конструкции большинства спектрографов такой операции не предусматривают и приходится делать специальные приспособления, позволяющие перемещать шторку, не засвечивая и не смещая при этом фотослоя. [40]
После того как исправленное положение спектральной поверхности рассчитано, производится установка, которая снова проверяется тем же методом. При работе этим способом, впрочем, как и другими, нужно следить, чтобы все действующее отверстие спектрального прибора было заполнено светом источника. [42]
При контроле отклонений положения поверхности проверяемых деталей должны также включаться в измерительную цепь. [43]
Число параметров, характеризующих положение поверхности в пространстве, не может быть меньше трех и больше шести. Так, например: для плоскости оно равно трем, для трехосного эллипсоида - шести. [44]
При выборе формы и положения поверхности у следует стремиться к тому, чтобы линии ее пересечения с данными поверхностями а и Р можно было легко определить. [45]
Страницы: 1 2 3 4