Cтраница 2
Эта плоскость называется главной плоскостью пространства изображений. Она пересекает оптическую ось в точке Я2, которая называется главной точкой пространства изображений. Таким образом, положение главной точки является еще одной очень важной характеристикой оптического элемента. [16]
От уже забитого пикета или плюса, ближайшего к главной точке кривой, откладывают разность пикетажных наименований и получают положение искомой главной точки. Так как измерение трассы за вершиной угла производится после расчета кривой, то конец кривой отмечают по ленте на соответствующем отсчете. [17]
От уже забитого пикета или плюса, ближайшего к главной точке кривой, откладывают разность их пикетажных наименований и получают положение искомой главной точки. Так как измерение трассы за вершиной угла производится после расчета кривой, то конец кривой отмечают по ленте на соответствующем отсчете. [18]
На рис. 133 показана одна из страниц пикетажной книжки. Вдоль прямой линии указано расположение пикетов, плюсовых точек, поперечников. Ось трассы развернута в прямую линию, направление поворота трассы показано только стрелкой. Слева даны выбранные из таблиц элементы кривой, а справа - расчеты, связанные с определением положения главных точек кривой. [19]
Система оказывается полностью заданной, если известно взаимное расположение четырех кардинальных точек. Существует несколько методов нахождения кардинальных точек. Один из них состоит в последовательном расчете хода лучей, падающих на систему слева и справа параллельно оси. Сущность другого, более употребительного метода, ясна из следующего. Пусть даны две оптические системы и для них известны фокусные расстояния и положения главных точек, причем обе системы расположены на общей оси на некотором известном расстоянии друг от друга; тогда можно вычислить фокусные расстояния и положения кардинальных точек сложной системы, состоящей из этих систем. Таким образом, если сложная система состоит из двух или большего числа подсистем с известными кардинальными точками, то производя описанный процесс сложения несколько раз, можно определить параметры системы в целом. [20]