Полоса - равный наклон
Cтраница 4
 |
Оптическая схема интерферометра ШИ-7. [46] |
В плоскости сетки 10 с помощью окуляра 9 наблюдаются прямые полосы равного наклона. [47]
 |
Эквивалентная схема при / g g JQV. [48] |
Прежде всего отметим, что при А t картина полос равного наклона в интерферометре с пластинкой полностью тождественна аналогичной картине в самой пластинке. [49]
При освещении пленки белым светом на экране наблюдается система разноцветных полос равного наклона. Легко видеть, что в том случае, когда оптическая ось линзы Л перпендикулярна к поверхности пленки, полосы равного наклона должны иметь вид концентрических колец с центром в главном фокусе F линзы. [50]
Дополнительными наклонами зеркал 21, 25 и смещением зеркала 28, наблюдая полосы равного наклона и полосы равной толщины, добиваются резкой контрастной интерференционной картины в белом свете. Если регулировкой зеркал 21, 25 сделать те и другие полосы бесконечно широкими, то наклоном одного зеркала 25 полосы равной толщины можно сделать любой ширины и любой ориентации. При этом полосы остаются локализованными в плоскости исследуемой неоднородности. Это объясняется тем, что зеркало 25 находится от полупрозрачной пластины 28 на таком же расстоянии, на каком располагается от нее плоскость исследуемой н ео дн ор одн ос ти. [51]
При а 0 ( плоскопараллельный слой) полосы равной толщины переходят в полосы равного наклона, локализованные в бесконечности. [52]
 |
К вопросу о локализации полос интерференции. [53] |
На экран, расположенный в главной фокальной плоскости линзы L, проектируются полосы равного наклона. [54]
С увеличением толщины плоскопараллельной пластины влияние угла наклона становится все менее заметным, полосы равного наклона становятся все ближе и ближе друг к другу. При больших толщинах плоскопараллельных пластин интерференцию света IB них наблюдать не удается. [55]
Для повышения точности метода пробных стекол при контроле плоскостей используют многолучевую интерференцию в виде полос равного наклона. Интерференционная картина наблюдается от тонкого воздушного слоя между контролируемой и эталонной поверхностями, каждая из которых покрыта отражающим слоем. Метод пробных стекол удобно применять для небольших по размерам поверхностей. [56]
Если зеркала М2 и М параллельны между собой, то приемник излучения Я будет фиксировать полосы равного наклона, имеющие вид концентрических окружностей. Если шлифовка одного из зеркал имеет дефекты, то интерференционная картина искажается: прямые полосы или кольца будут иметь неправильную, искривленную форму. [57]
При слегка расходящемся пучке света и строго параллельном расположении плоскостей Mi и М г получаются полосы равного наклона, имеющие вид концентрических колец. При вращении микрометрического винта W2 кольца увеличиваются или уменьшаются в диаметре. При этом в центре картины либо возникают новые кольца, либо уменьшающиеся кольца стягиваются в точку и затем исчезают. Смещение картины на одну полосу соответствует перемещению зеркала М2 на половину длины волны. [58]
Легко видеть, что в том случае, когда оптическая ось линзы Л перпендикулярна поверхности пленки, полосы равного наклона должны иметь вид концентрических колец с центром в главном фокусе F линзы. Это явление используется на практике для весьма точного контроля степени плоскопараллельности тонких прозрачных пластинок ( например, стеклянных): изменение толщины пластинки на величину порядка 10 нм ( Ю-8 м) уже можно обнаружить по искажению формы колец равного наклона. [59]
Легко видеть, что в том случае, когда оптическая ось линзы Л перпендикулярна поверхности пленки, полосы равного наклона должны иметь вид концентрических колец с центром в главном фокусе F линзы. Это явление используется на практике для весьма точного контроля степени плоскопараллельности тонких прозрачных пластинок ( например, стеклянных): изменение толщины пластинки на величину порядка 10 нм ( 10 - 8 м) уже можно обнаружить по искажению формы колец равного наклона. [60]
Страницы: 1 2 3 4 5