Полоса - равный хроматический порядок
Cтраница 2
Кроме того, картина полос равного хроматического порядка может быть зарегистрирована фотоэлектрически. [16]
Определив аахр экспериментально и вычислив а0 из (21.11), находим интерференционную полосу с нулевым порядком интерференции. Отметим, что, как указывалось ранее, при Д 0 в картине полос равного хроматического порядка должна быть светлая полоса. [17]
Область ахроматизации проявляется в виде характерного изменения в интерференционной картине, например, в методе Д. С. Рождественского - это изгиб интерференционных полос - крюк, а в методе полос равного хроматического порядка - - это появление более широкой, чем другие, ахроматической полосы в некоторой области спектра. [18]
ФД-4), на которой четко обозначены полосы поглощения. Систему полос равного хроматического порядка создает устройство типа интерферометра Фабри-Перо. Экспериментально снимается зависимость k f ( N), где k - относительный порядок интерференции; N - отсчет по шкале. [19]
В этом случае интерферометр освещается источником белого света, таким образом, соблюдается постоянство отношения mhl k, где Л - расстояние между пластинами. Механизм образования полос равного хроматического порядка такой же, как и для полос равной толщины в монохроматическом свете, плоскость локализации интерференционной картины также совпадает с поверхностью переднего зеркала. По существу, полосы равного хроматического порядка представляют собой полосы равной толщины, соответствующие различному значению Я. [20]
Калибровка профилометра Талистэп производится по тонким пленкам, толщина которых измеряется в абсолютных единицах длин волн по полосам интерферометра полос равного хроматического порядка. Горизонтальное разрешение профилометра зависит от радиуса и угла заточки алмазной иглы. Для очень гладких поверхностей, имеющих малые углы наклона шероховатостей, горизонтальное разрешение может составлять доли радиуса закругления иглы. По получаемым про-филограммам строят функции распределения шероховатостей по углам наклона и по высотам. [21]
 |
Методы измерения толщины пленок. [22] |
Простейшим из этих методов является метод цветовой шкалы, в котором используется изменение интерференционной окраски прозрачной пленка при изменении ее толщины. Этот метод требует предварительной калибровки цветов по какому-нибудь другому абсолютному методу измерения толщины. В интерференционных методах многолучевой интерферометрии определяется смещение полос Физо на ступеньке подложка - пленка. Более совершенным является способ полос равного хроматического порядка, при котором может применяться белый свет. Спектрофото-метрические методы используют изменение амплитуды поляризованного света при отражении от границ раздела подложка - пленка и пленка - внешняя среда. Обычно снимается зависимость отражательной способности системы от длины волны света при нормальном падении луча. Метод позволяет определить толщину и показатель преломления материала пленки, но он достаточно трудоемок. [23]
 |
Схема прохождения. [24] |
Для измерения показателей преломления и дисперсии плоскопараллельных слоев жидкостей и пластинок довольно часто используются интерференционные явления в пластинках, рассмотренные в гл. Эта задача решается двумя способами. Один из них состоит в последовательном наблюдении полос равной толщины и равного наклона чтопозволяет вычислить толщину пластинки и ее показатель преломления. Другой способ состоит в наблюдении полос равного хроматического порядка, образующихся при многократном отражении света в исследуемом слое. [25]
Страницы: 1 2