Cтраница 2
![]() |
Схема фокусировки в многоканальном ди-фрактометре. [16] |
Выбор условий получения рентгенограмм - важное звено при проведении фазового анализа и имеет целью получить рентгенограмму ( дифрактограмму) высокой чувствительности и за экономически приемлемое время. [17]
![]() |
Отражение рентгеновских лучей от плоскостей кристалла под углом Брэгга. [18] |
Поэтому при получении рентгенограмм приходится кристалл вращать, вернее сообщать ему крутильное колебание вокруг различных осей. [19]
Идентификация фаз после получения рентгенограммы начинается с нахождения углов 6 и соответствующих им величин межплоскостных расстояний, а также относительных интенсивностей каждой линии. Интенсивность оценивается качественно или количественно, например, по десяти - или стобалльной шкале. Затем выбирают еще 2 - 3 интенсивные линии и в случае их совпадения с одной из эталонных рентгенограмм сопоставляют все остальные линии. Если все линии эталонной рентгенограммы отвечают определенным линиям рентгенограммы исследуемого материала без существенных противоречий в их относительной интенсивности, первое соединение можно считать найденным. Из оставшихся на рентгенограмме линий опять выбирают наиболее интенсивную, и всю операцию повторяют. Анализ продолжается, пока все линии рентгенограммы не будут отнесены к определенным соединениям. [20]
Это - быстрота получения рентгенограммы для фазового и других видов анализа и более простой ее расчет, возможность простого и точного определения интегральной интенсивности линий и диффузного фона, более точное и быстрое определение ориентировки монокристаллов, построение количественных полюсных фигур. [21]
Рентгенографический контроль с получением рентгенограмм ИМС в различных проекциях обязателен в тех случаях, когда наличие внутри корпуса микросхемы постороннего материала установлено на основании предыдущих испытаний, а также при наличии информации о перегревах и отказавших ИМС. [22]
![]() |
Расположение дислокаций в стальной фольге после 3 - 105 циклов переменного напряжения 2200 кГ / см -. X 10 000. [23] |
Метод основан па получении рентгенограммы при дифракции пучка рентгеновских лучей на металлическом образце. [24]
Камера-монохроматор КМСП предназначена для получения рентгенограмм с очень низким уровнем фона. Съемка проводится в кассетах с диаметрами 57 3 и 171 89 мм по различным схемам. [25]
Простейшая схема прибора для получения рентгенограмм по методу вращения ( камера вращения) показана на рис. 26, а. Первичный пучок, вырезанный коллиматором, падает на кристалл перпендикулярно оси его вращения. Будем считать, что с осью вращения совмещена кристаллографическая ось X кристалла. Дифракционные лучи, возникающие в процессе изменения углов % 2 и хз и соответственно углов ps ( f /) и Фз ( 0, в двух других условиях Лауэ должны идти по образующим этой системы конусов. [26]
![]() |
Схема рентгеновских камер в методе вращающегося кристалла. [27] |
Простейшая схема прибора для получения рентгенограмм по методу вращения ( камера вращения) показана на рис. 33, а. Первичный пучок, вырезанный коллиматором, падает на кристалл перпендикулярно оси его вращения. Будем считать, что с осью вращения совмещена кристаллографическая ось X кристалла. [28]
Простейшая схема прибора для получения рентгенограмм по методу вращения ( камера вращения) показана на рис. 26, а. Первичный пучок, вырезанный коллиматором, падает на кристалл перпендикулярно оси его вращения. Будем считать, что с осью вращения совмещена кристаллографическая ось X кристалла. Дифракционные лучи, возникающие в процессе изменения углов % 2 и Хз и соответственно углов ф2 ( 7) и Фз ( г), в Двух других условиях Лауэ должны идти по образующим этой системы конусов. [29]
![]() |
Схема камеры вращения в методе вращающегося кристалла. [30] |