Полуширина - спектральная линия
Cтраница 2
По форме контура спектральной линии находят отношение лорен-цовского и допплеровского уширений. Зная это отношение и измеряемую полуширину спектральной линии, определяют полуширину линии, обусловленную чисто допплеровским уширением, а по формуле (12.7) - температуру газа. Наиболее удобная аппаратура для осуществления этого метода основана на применении эталона Фабри - Перо. [16]
Значения, приведенные в монографиях ( например, [106]), следует считать ориентировочными. Так как из измерений на двухкристальном спектрометре ( см. ниже) непосредственно определяется полуширина спектральной линии, то лучше обратиться к этим данным. Итак, согласно [106], величины АХ для Каг линии монотонно падают от 1 60 X для Са до 0 153 X для W; ДА, для L - от 4 5 X для Ag до 0 88 X для U. Новые и более точные данные, хотя и для ограниченного числа линий, приведены в табл. 10 в связи с анализом результатов, полученных на двухкристальном спектрометре. [17]
Для достижения желаемого эффекта развязки в рассмотренных выше экспериментах необходимо использовать поля б2 с относительно большой амплитудой. При слабых полях В2 ( порядка величины, определяемой соотношением В2 А, где А - полуширина спектральной линии) наблюдаются другие эффекты. [18]
В случае РФС наблюдаемая полуширина линии ( полная ширина на половине высоты) значительно выше, чем в случае УФС. Данные по поглощению и испусканию рентгеновских лучей [33] показывают, что присущая внутренним атомным уровням ширина линий снижается с уменьшением атомного номера и может быть порядка 0 1 эВ или менее для элементов с низким атомным номером. Тогда можно ожидать, что теоретический предел полуширины спектральных линий РФС будет иметь порядок 0 1 эВ при фотоионизации ls - электро-нов углерода, ls - электронов азота, 2р - электронов фосфора и других аналогичных электронов. [19]
Обычно экспериментатора интересует какой-либо один параметр СКСЛ. Наличие остальных только мешает правильному определению искомого параметра. Так, если при диагностике плазмы нужно извлечь информацию из полуширины спектральной линии, то сверхтонкая и изотопическая структуры линии могут исказить результаты измерений. И наоборот, допп-леровское уширение препятствует правильному определению относительных интенсивностей и положений компонентов спектральных линий, особенно плохо разрешенных или неразрешенных вовсе. Из вышесказанного следует, что для правильного извлечения информации из сложных контуров спектральных линий в принципе необходимо определить все неизвестные заранее параметры СКСЛ. [20]
Для определения следов элементов целесообразно применять спектрографы большой дисперсии и разрешающей способности. Интенсивность непрерывного фона ослабевает обратно пропорционально величине дисперсии ( или прямо пропорционально обратной дисперсии), интенсивность спектральных линий остается неизменной. Каждая спектральная линия представляет собой изображение входной щели, и поскольку увеличение почти всех дифракционных спектрографов независимо от их размеров равно единице, теоретически полуширина спектральной линии должна равняться ширине щели. Поскольку непрерывный спектр можно рассматривать как наложение бесконечного числа перекрывающихся изображений щели, обладающих определенной энергией в заданном интервале длин волн, ясно, что интенсивность фона в этом интервале уменьшается по мере увеличения дисперсии. Фон спектра может быть обусловлен раскаленными частицами пробы, рассеянным внутри спектрографа светом, излучением молекулярных полос, образующихся в результате реакций пробы и электродов с атмосферой разряда и другими причинами. В пределах любого заданного интервала длин волн падающий на фотопластинку поток, соответствующий фону, остается почти постоянным. Так, в спектрографе с малой дисперсией, например 20 А / мм, энергия излучения фона в области 2000 - 3000 А падает на часть фотопластинки длиной 50 мм. Если же применяют спектрограф с дисперсией в 10 раз большей, та же энергия распределяется уже по длине 500 мм. Поэтому интенсивность спектра фона уменьшается в каждой точке в 10 раз, тогда как интенсивность линии при этом почти не меняется. [21]
 |
Отношение сигнал / шум в спектре ЯМР. Показан сигнал группы СН2 1 % - го раствора этилбензола в СС14. [22] |
Разрешающая способность спектрометра обычно характеризуется безразмерной величиной 6ЯШ0, где 6Я - неоднородность магнитного поля Н0 в месте нахождения образца. Разрешающая способность зависит в основном от качества материала полюсных наконечников, от градиентов поля Я0 вблизи образца. Стабильность показывает, насколько постоянным во времени остается магнитное поле спектрометра, поскольку от этого показателя зависит постоянство ( воспроизводимость) положений отдельных сигналов в спектре. Для определения стабильности записывают спектр какого-либо соединения, дающего узкие линии, через некоторые промежутки времени и находят смещение этих линий. Стабильность приобретает особо важное значение при использовании накопителя сигналов, когда в течение нескольких часов дрейф поля или частоты прибора должен быть значительно меньше полуширины спектральной линии. [23]
Страницы: 1 2