Полуширина - аппаратная функция
Cтраница 1
Полуширина аппаратной функции указывает порядок постоянной времени прибора. [1]
 |
Характеристика эталонов. [2] |
Значение полуширины аппаратной функции для аналитической полосы необходимо для воспроизведения условий анализа на других приборах. [3]
Полуширина спектральной линии много меньше полуширины аппаратной функции; иначе говоря, можно считать, что Е ( х) 0 во всем спектральном диапазоне за исключением очень узкого спектрального участка 2ЛА в районе х х0, в пределах которого функция А ( х - хг) меняется очень мало. [4]
Да / dcr; da - предел разрешения, определяемый как полуширина аппаратной функции спектрального прибора. В этом случае две монохроматические линии, отстоящие друг от друга по шкале волновых чисел на расстоянии da, могут быть разрешены, если две соответствующие волны в приборе приобретают разность фаз 2я радиан. Критерий предельного разрешения в такой формулировке был применен из того расчета, чтобы для призменных спектрометров он совпал с критерием Рэлея. В общем случае это условие может не соблюдаться. [5]
При определении разрешающей силы растрового спектрометра принимаем для простоты за предел разрешения полуширину аппаратной функции. [6]
Реальный предел разрешения определяется, помимо этого, всеми перечисленными выше причинами, влияющими на полуширину аппаратной функции спектрального прибора и соответственно расширяющими измеренный контур спектральной линии. [7]
Допустим, что спектральная полуширина ДА, светового потока, пропускаемого щелью монохроматора [ см. формулы (27.22) и (27.23) 1, равна полуширине ДА аппаратной функции монохроматора. [8]
 |
Принципиальная схема сканирования, интерференционной картины при изменении масштаба ее изображения. [9] |
Связь между шириной диафрагмы dr и параметрами ИФП получим, дифференцируя выражение (7.5.28) и заменяя de 1 / М фф, где de - полуширина аппаратной функции, выраженная в долях порядка интерференции. [10]
Применение свертки целесообразно, когда измеренный тепловой поток во времени имеет значение того же порядка, что и чувствительность применяемых приборов, причем последняя приблизительно равна полуширине аппаратной функции. Если ожидаемое изменение теплового потока много меньше чувствительности, полученная экспериментальная кривая будет являться хорошим приближением к ее истинному виду и корректировка нецелесообразна. [11]
 |
Принципиальная схема сканирования, интерференционной картины при изменении масштаба ее изображения. [12] |
Поясним его с помощью рис. 7.5.8. Изображение интерференционной картины колец проектируется с помощью пан-крэтического объектива О в плоскость кольцевой диафрагмы D с радиусом г и шириной dr, соответствующей полуширине аппаратной функции ИФП. Сущность способа заключается в том, что сканирование осуществляется изменением масштаба изображения интерференционной картины панкратическим объективом О. [13]
Рассмотрим случайные дадаибки, порождаемые следящей системой спектрометра, наводящей его входные щели на геометрический центр солнечного диска, орбитальным движением космического корабля, шумами приемно-регистрирующего тракта спектрометра и измерением, полуширины аппаратной функции спектрометра. [14]
Большие значения ошибок в нижних слоях обусловлены тем, что для них наибольшими погрешностями являются AjPz ( ftm), в случае же верхних слоев атмосферы сказывается малая информационная обеспеченность измерений. Для того чтобы оценить погрешности восстановления профилей Н2О при достаточно точном измерении полуширины аппаратной функции, были проведены аналогичные численные эксперименты для ( ЛРт) а. Точность восстановления в верхних слоях атмосферы не изменяется, поскольку для них она определяется главным образом информационной, обеспеченностью измерений. [15]
Страницы: 1 2