Маркировочный анализ

Cтраница 2

Персульфатный метод применяется для экспрессных и маркировочных анализов. Определение производят в сернокислом или серно-фосфорнокислом растворах. Подготовленный таким путем раствор, содержащий VIV, титруют раствором КМпО4 до появления розового окрашивания, не исчезающего в течение 1 - 2 мин. [16]

Схема пробоотбора для определения фактической погрешности отбора и подготовки проб. [17]

Отбор и подготовку проб для маркировочного анализа ферросплавов проводят в соответствии с государственными стандартами и аттестованными методиками; фактическую погрешность методов отбора и подготовки проб определяют экспериментально по приведенной ниже схеме. [18]

В книге описаны разработанные автором методы качественного и полуколичественного маркировочного анализа материалов, причем проба для анализа берется непосредственно на деталях, путем обработки кислотой, без снятия стружки. [19]

При ускоренном определении серы ( не для маркировочного анализа) применяются упрощенные приборы разных конструкций. [20]

При ускоренном определении серы ( не для маркировочного анализа) применяются упрощенные приборы разных конструкций. Один из них ( рис. 72 а) состоит из колбы / для разложений, воронки 2 для приливания соляной кислоты и стакана 3, содержащего поглотительный раствор ацетатов кадмия и цинка. [21]

Висмутатно-арсенитный метод ( комбинированный метод) применяется для маркировочных анализов. Окисление Мп производится Na2BiO3, титрование - раствором арсенит-нитрита или одного арсенита. [22]

Контрольные анализы проводят, когда возникает необходимость проверки результатов маркировочного анализа. Контрольные анализы очень часто являются теми же маркировочными анализами, только более точными, так как вводят дополнительные операции. [23]

Применение фотоэлектрических приборов весьма эффективно при выполнении задач экспрессного характера и однотипных маркировочных анализов. Если прибор готов к работе, его приборное время, необходимое для выполнения анализа, составляет всего 1 - 6 мин в зависимости от конструкции используемого аппарата и сложности аналитической программы. Но полное время анализа зависит еще и от таких факторов, как время отбора пробы, быстрота доставки в лабораторию и скорость ее подготовки к анализу. Поэтому эффективность применения фотоэлектроники в смысле экспрес-снрсти анализа всецело зависит от наличия пневмопочты и телефонной, телетайпной или радиосвязи заказчика с лабораторией, от наличия в лаборатории высокопроизводительных токарных, шлифовальных и пр. [24]

Пример определения температуры no Iff. линиям железа. [25]

Многоканальные фотоэлектрические спектрометры ( квантометры) широко применяют в промышленности для экспрессного и маркировочного анализа металлов и сплавов. Типичная функциональная схема квантометра показана на рис. 3.31. Спектральный прибор представляет собой полихроматор, в котором входная щель, вогнутая дифракционная решетка и передвижные вы-ходные щели расположены по кругу Роуланда. Излучение источника света, работающего в атмосфере инертного газа, растровым конденсором направляется через входную щель на дифракционную решетку с радиусом кривизны 1 - 2 м и числом штрихов до 2400 на 1 мм. Дифракционная решетка разлагает излучение в спектр и фокусирует его по дуге АВ. Выходные щели выделяют из этого спектра нужные линии. За выходными щелями расположены зеркала, направляющие выделенные излучения на фотокатоды фотоумножителей. [26]

Пример определения температуры по линиям железа. [27]

Многоканальные фотоэлектрические спектрометры ( квантометры) широко применяют в промышленности для экспрессного и маркировочного анализа металлов и сплавов. Типичная функциональная схема квантометра показана на рис. 3.31. Спектральный прибор представляет собой полихроматор, в котором входная щель, вогнутая дифракционная решетка и передвижные вы-ходные щели расположены по кругу Роуланда. Излучение источника света, работающего в атмосфере инертного газа, растровым конденсором направляется через входную щель на дифракционную решетку с радиусом кривизны 1 - 2 м и числом штрихов до 2400 на 1 мм. Дифракционная решетка разла-гает излучение в спектр и фокусирует его по дуге АВ. Выходные щели выделяют из этого спектра нужные линии. За выходными щелями расположены зеркала, направляющие выделенные излучения на фотокатоды фотоумножи-телей. [28]

Пример определения температуры по линиям железа. [29]

Многоканальные фотоэлектрические спектрометры ( квантометры) широко применяют в промышленности для экспрессного и маркировочного анализа металлов и сплавов. Типичная функциональная схема квантометра показана на рис. 3.31. Спектральный прибор представляет собой полихроматор, в котором входная щель, вогнутая дифракционная решетка и передвижные выходные щели расположены по кругу Роуланда. Излучение источника света, работающего в атмосфере инертного газа, растровым конденсором направляется через входную щель на дифракционную решетку с радиусом кривизны 1 - 2 м и числом штрихов до 2400 на 1 мм. Дифракционная решетка разлагает излучение в спектр и фокусирует его по дуге АВ. Выходные щели выделяют из этого спектра нужные линии. За выходными щелями расположены зеркала, направляющие выделенные излучения на фотокатоды фотоумножителей. [30]

Страницы: 1 2 3 4