Построение - характеристическая кривая
Cтраница 2
Для построения характеристической кривой необходимо на исследуемую фотопластинку нанести марки почернения. Для этого существует несколько способов. Почти все они исходят из постоянства времени экспозиции при нанесении марок почернения. [16]
 |
Спектральная чувствительность фотографических пластинок. / - спектральные ( тип I. 2 - спектральные ( тип II. 3 - изоортохроматические. 4 - . панхроматические. [17] |
Для построения характеристической кривой необходимо измерить почернения и знать соответствующие им экспозиции НЕ № в нескольких ее точках. Точная дозировка освещенности Е на фотопластинке может быть получена различными способами. [18]
Для построения характеристической кривой необходимо на исследуемую фотопластинку нанести марки почернения. Для этого существует несколько способов. Почти все они исходят из постоянства времени экспозиции при нанесении марок почернения. [19]
Для построения характеристической кривой удобно использовать одну из наиболее интенсивных линий элемента, имеющегося в относительно больших количествах в распоряжении экспериментатора. Чаще всего для этой цели используется вещество антикатода рентгеновской трубки спектрографа или относительно устойчивый окисел какого-либо металла, который толстым слоем наносится - на поверхность анода. [20]
Для построения характеристической кривой фотографируют какой-нибудь линейчатый спектр, имеющий достаточное число линий разной интенсивности в нужной области длин волн. Предварительно необходимо убедиться, что интенсивность спектральных линий по высоте строго одинакова. Только в этом случае можно пользоваться градуировкой ослабителя, так как пропускаемость ступенек измерена для случая одинаковой интенсивности света, падающего на каждую ступеньку. После того как проверена освещенность линии по высоте в пектре, полученном без ослабителя, контроль освещенности проводят по первой и девятой ступенькам ослабителя. Соответствующие им участки спектральной линии должны иметь одинаковые почернения. Измерив на микрофотометре почернения для разных ступенек одной и той же спектральной линии, получают 8 точек для построения характеристической кривой. [21]
Метод построения характеристических кривых должен исключать влияние эффекта Шварцшильда, для чего все марки почернения должны быть получены с одинаковым временем экспозиции, близким к времени фотографирования спектров анализируемых проб и эталонов. Это можно осуществить, применяя неселективный ступенчатый ослабитель, расположенный перед щелью спектрографа. [22]
Методы построения характеристических кривых для оптического и рентгеноспектрального анализа имеют, конечно, много общего. В их основе лежит экспериментальное сопоставление двух рядов чисел, из которых один представляет собой величины закономерно изменяющихся экспозиций, а второй - величины почернений, соответствующих каждому из значений величин первого ряда. Однако в рентгеновской спектроскопии для построения характеристической кривой эмульсии может быть использовано большее число методов, часть которых отличается от обычно применяемых в оптике. Точность каждого из этих методов, так же как и степень удобства, с которой он может быть использован при проведении рентгеноспектрального анализа, различна. В настоящем разделе рассмотрены эти методы; наибольшее внимание уделено тем, которые были предложены для целей рентгеноспектрального анализа и по тем или иным причинам не нашли применения в оптическом спектральном анализе. [23]
При построении характеристических кривых по осям X и Y откладываются десятичные логарифмы экспозиции и оптической плотности соответственно. Оптическая плотность измеряется, как это было описано выше, в безразмерных единицах плотности, и под ней может подразумеваться оптическая плотность как самого светочувствительного материала, так и некоторого завершающего процесс результата, например контактного фотографического отпечатка или проецируемого изображения. [24]
 |
Расчетная схема гидропередачи. [25] |
При построении характеристических кривых можно достаточно просто учесть сопротивление трубопроводов. Пусть перепад давления Артр на участке А-А равен Apjp SQ2, где В - коэффициент, учитывающий геометрические параметры трубопровода. [26]
При построении характеристической кривой для вакуумной области спектра часто пользуются методом изменения выдержки. Этот метод применим, когда известно, что отклонения от закона взаимозаместимосхи для используемой эмульсии невелики. [27]
 |
Характеристическая кривая фотографической пластинки. [28] |
При построении характеристической кривой выгоднее изменять интенсивность света /, сохраняя величину t постоянной. [29]
Этот метод построения характеристической кривой является наиболее распространенным благодаря своей простоте. [30]
Страницы: 1 2 3 4