Потеря - интенсивность - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Настоящая женщина должна спилить дерево, разрушить дом и вырастить дочь. Законы Мерфи (еще...)

Потеря - интенсивность

Cтраница 2


16 Схема расположения основных узлов гониометра ГУР-3. S - фокус рентгеновской трубки. О - ось гониометра. /, / / и / / / - вертикальные щели шириной 0 1 мм ( щели I я II формируют пучок лучей, падающих на образец. / / / - входная щель счетчика. IV и V - горизонтальные щели регулируемой высоты. [16]

Особенно большое значение имеет тщательная юстировка гониометра при исследовании тонкой структуры монокристаллов с применением кристалл-мо-нохроматора, так как в этом случае разъюстяровка прибора приводит к существенным потерям интенсивности.  [17]

Следствием строгой коллимации пучка, необходимой в методе рассеяния под малыми углами, является понижение интенсивности рассеянного излучения, поэтому делается все возможное, чтобы восполнить потерю интенсивности. Этого, очевидно, можно достигнуть увеличением размеров исследуемого образца, и при фотографическом или трансмиссионном методе регистрации оптимальная толщина образца составляет 1 - 2 мм.  [18]

Важно, что эта спектральная плотность достигается одновременно с высокой интенсивностью испускаемого света; это принципиально отличается от обычных спектральных методов, в которых высокое спектральное разрешение ведет к потере интенсивности. Спектральная чистота излучения лазера тесно связана с его когерентностью.  [19]

Установлено, что при отсутствии контроля за интенсивностью УФС она может падать в два и даже десять раз в зависимости от длительности работы, фокусировки и типа лампы, так что потеря интенсивности УФ-облучения может свести на нет приращение яркости, достигнутое при создании новых люминесцентных индикаторных жидкостей. Отсюда следует, что эффективная эксплуатация источников УФ-излучения возможна лишь при условии контроля интенсивности излучения.  [20]

Научно и практически установлено, что гамма-лучи, проходя через металл, дерево или другие вещества, теряют свою интенсивность, причем чем больше плотность вещества или чем больше толщина одного и того же вещества, тем потеря интенсивности ( ослабление) лучей большая. Следовательно, если лучи проходят через предмет одинаковой толщины, уровень интенсивности: их после выхода из вещества будет одинаков: если же толщина предмета, через который проходят гамма-лучи, различна, интенсивность лучей в различных точках его будет также различна.  [21]

Анализ кривых рис. 2 также показывает, что кристаллы с интегральной шириной, лежащей в интервале 0 3 - 0 4 от значения, при котором достигается максимум / м, могут быть использованы для фокусирующих монохроматоров без существенной потери интенсивности.  [22]

Камера, как показали исследования, легко юстируется на гониометре и удобна при работе. Потеря интенсивности на окошках практически компенсируется выигрышем из-за отсутствия рассеяния рентгеновских лучей на воздухе.  [23]

Гамма-излучение, пройдя через исследуемый металл, теряет свою интенсивность. Потеря интенсивности зависит от толщины и рода материала, через который проходит излучение.  [24]

Поэтому в отличие от рентгенографии, где только в случае очень точных или специальных работ применяются кристалл-монохроматоры ( а чаще довольствуются от-фильтровыванием ненужных излучений через фольгу), в нейтронографии для вырезания нужного пика кристалл-монохроматорная техника необходима. Это связано с существенными потерями интенсивности.  [25]

Эффективность кристаллов, применяемых в рентгеновских спектрометрах, довольно низкая: интенсивность света, отраженного от кристалла, в 1000 раз меньше интенсивности падающего света. Коллимация также приводит к потере интенсивности.  [26]

Обычно различают три типа процессов: поглощение, вынужденное излучение и спонтанное излучение. Процесс поглощения состоит в потере интенсивности электромагнитного излучения и получении энергии поглощающей частицей. Обратный процесс, когда частица, находящаяся в верхнем состоянии, отдает энергию электромагнитному излучению, известен как вынужденное излучение: слово вынужденное указывает, что существует взаимодействие между излучением и возбужденными частицами, вызывающее потерю энергии. Коэффициент пропорциональности определяет так называемые коэффициенты Эйнштейна В. Bim - коэффициент для процесса поглощения, Bmi - для вынужденного излучения; согласно принципу микроскопической обратимости, BimBmt, и этот же результат можно получить при строгом следовании теории излучения. Скорости поглощения и вынужденного испускания равны Bimnip и Bminmp ( fiim mp) соответственно, где г и Пт - концентрации частиц в низко - и высоколежащих состояниях. В случае теплового равновесия пт всегда меньше, чем щ [ см. уравнение Больц-мана (1.4) ], и вклад поглощения оказывается более существенным, чем вынужденного испускания. Уже упоминалось, что характерными для фотохимии являются уровни энергии ( em-e i) kT и Пт Спг, поэтому вклад вынужденного испускания в фотохимические процессы в условиях теплового равновесия пренебрежимо мал.  [27]

28 Устройство цилиндрического. v, n - - - в источника. 1-нить для подвески источника. 2 - графитовая пробка. 3 - бериллие-имй цилиндр. 4 - источник у-квантов. 5 - графитовый цилиндр. 6 - латунная трубка. [28]

Спектры всех известных ( а, п) - источников занимают широкий энергетнч. Однако уменьшение этой толщины приводит к сильной потере интенсивности. От этого свободны источники, в к-рых используется реакция фоторасщепления.  [29]

Это, однако, связано с существенной потерей интенсивности. Во-вторых, можно применить принцип комбинированной фокусировки [11] - в этом случае необходимо достигнуть особенно гладкой поверхности образца. Кроме того, этот метод применим только для твердых тел. В-третьих, можно использовать точечный источник рентгеновского излучения, расположенный на круге Роуланда для сферически изогнутого кристалла-монохроматора, что является самым универсальным способом. Однако даже при применении монохроматоров для первичной возбуждающей линии не удается достичь разрешающей способности фотоэлектронного метода: наименьшая ширина рентгеноэлектронной линии равна 0 39 эв [57] - это примерно на порядок хуже, чем ширина линии спектра для рядового фотоэлектронного спектрометра.  [30]



Страницы:      1    2    3