Cтраница 2
Поток излучения - число корпускул или квантов, проходящих в единицу времени через единицу площади поверхности, перпендикулярной к потоку излучений. [16]
![]() |
Схема анализатора с абсорбционными камерами отражающего типа. [17] |
Потоки излучения, указанные на рисунке стрелками, от источника / направляются через окна камер 2 и 4 на зеркальные поверхности и, отражаясь от них, через те же окна, выходят наружу в направлении приемника излучения 3, реагирующего на разность этих потоков. Через рабочую камеру 2 пропускается анализируемая смесь. Камера 4 заполнена компенсирующей смесью, содержащей определяемый компонент. Отражающая поверхность компенсирующей камеры может перемещаться и изменять толщину слоя смеси, пронизываемого потоком. Сигнал на выходе приемника при изменении концентрации определяемого компонента в анализируемой смеси поддерживается равным нулю изменением полного количества молекул компенсирующей смеси на пути сравнительного потока. Концентрацию определяемого компонента в анализируемой смеси находят по положению отражающей поверхности компенсирующей камеры. [18]
Поток излучения ( излучаемая мощность) с ростом температуры уменьшается. Тогда с ростом температуры сила света уменьшается, с одной стороны, за счет изменения чувствительности глаза с изменением длины волны, с другой - за счет непосредственного уменьшения мощности излучения. Например, для красного СИД при 650 нм чувствительность глаза изменяется примерно на 4 3 % при изменении длины волны на 1 мм. Смещение длины волны составляет 0 2 нм / С. Сила света изменяется примерно на 1 % при увеличении температуры на 1 С. [19]
![]() |
Вольт-амперные характеристики фотодиода в фотогальвани - ческом режиме. [20] |
Поток излучения Ф - мощность излучения, приходящаяся на всю поверхность / г-области полупроводника. Поэтому число фотонов, приходящих в единицу времени на всю поверхность, равно Ф / / гу. [21]
![]() |
Измерение коэффициента отражения. [22] |
Поток излучения, поступающий в приемник, равен произведению Po ( K) t (), где t ( K) - функция прозрачности объекта измерения. [23]
Поток излучения мощностью 1 мкВт падает перпендикулярно на 1 см2 поверхности. [24]
![]() |
Зависимость тока в камере от толщины фильтра для различных рагсеивателей. излучатель - Т1204. [25] |
Поток излучения, отраженный от детали с покрытием, кроме их атомных номеров, зависит также от размеров детали, формы поверхности и чистоты ее обработки. [26]
![]() |
К решению задачи лучистого теплообмена в замкнутой системе из двух тел. [27] |
Поток излучения, падающего на поверхность F4, складывается из эффективного излучения поверхности FZ, посылаемого на поверхность FJ, и эффективного излучения, посылаемого поверхностью FI на самое себя. [28]
Поток излучения от аккрецирующего газа взаимодействует с потоком падающего вещества и замедляет его скорость. Fr становится порядка силы притяжения FQ, происходит резкая перестройка аккреционного потока: скорость его падения замедляется, а плотность увеличивается. [30]