В-образец
Cтраница 1
В-образец; К - покрытие из хлорида натрия; Л / - ввод хлора; Р - внутреннее отверстие, через которое подается хлор. [1]
В-образец Я, измерительное поле 1 08 арстед, период пюбодных колебаний 0 2 сек; кривая г-образец 4 ( июль 1951 г.), измерительное поле 0 33 эрстед, период свободных колебании 1 3 сек; кривая D - образец 4 ( январь 1953 г.), измерительное поле 1 08 эрстед, период свободных колебании 1.3 сек. [2]
Однако в-образцах с недостатком фосфата часто наблюдаются более сложные кривые титрования, это дает основание предполагать, что такие соединения могут быть многофункциональными. Двуокись циркония при титровании кислотами проявляет свойства однокислотного основания. [3]
Кривая А-образцы 1 и 2, измерительное поле 1 08 эрстед, период свободных колебаний 7 сек; кривая В-образец 3, измерительное поле 1 08 эрстед, период свободных колебаний 0 2 сек; кривая С-образец 4 ( июль 1951 г.), измерительное поле 0 33 эрстед, период свободных колебаний 1 3 сек; кривая D-образец 4 ( январь 1953 г.), измерительное поле 1 08 эрстед, период свободных колебаний 1 3 сек. [4]
 |
Схема для измерения электрического сопротивления с помощью балансной ячейки. [5] |
А-измерительная часть; Б - сравнительная часть; / - балансная ячейка; 2-реостаты ( на силу тока до 5 А); 3-амперметры ( на силу тока до 5 А); 4-милливольтметр; 5-ограничители пути тоа в ячейке; 6-отрицательный электрод; 7-положительные электроды; в-образец пористого материала. [6]
Кривая А-образец в поперечном магнитном поле. Кривая В-образец в продольном магнитном поле. [7]
Маловероятно, что чистый ненапряженный Nb3Sn имеет критическое поле при 0 К. Они способствуют формированию в-образце многочисленных сверхпроводящих нитей, распределенных в нормальной фазе. [8]
На рис. 3.24 представлен профиль скорости свободной поверхности образца кварцевого стекла толщиной 5 15 мм. Импульсы ударно-волновой нагрузки генерировались взрывной линзой и вводились в-образцы через толстые ( 20 мм) медные экраны. Непосредственно за волной сжатия следует волна разрежения, которая вызывает относительно медленный спад скорости поверхности образца. [9]
Для количественного определения свободной серы предложены различные оптические методы. Этим методом удается определить содержание в-образцах серы от 2 - 10 - 5 % и выше, причем даже в присутствии значительных количеств перекисей, органических сульфидов, дисульфидов и меркаптанов. [10]
Страницы: 1