Почернение - фотопластинка
Cтраница 3
 |
Градуировочный график. [31] |
Измерение этой энергии ( либо зависящей от нее величины, например почернения фотопластинки или напряжения на накопительном конденсаторе) дает нужную нам эмпирическую связь между измеряемой величиной и концентрацией элемента в пробе. [32]
 |
Схема плотной упаковки молекул в кристалле.| Атомная решетка в кристалле алмаза. [33] |
Другая группа более трудоемких задач разрешается при расшифровке рентгенограмм по степени почернения фотопластинки, зависящей от интенсивности интерферирующих в разных направлениях рентгеновых лучей. [34]
Во столько же раз следует увеличить время экспозиции, чтобы интенсивность почернения фотопластинки осталась прежней. [35]
Другая группа более трудоемких задач разрешается при расшифровке рентгенограмм по степени почернения фотопластинки, зависящей от интенсивности интерферирующих з разных на: - равтениях рентгеновых лучей. [36]
Пользуясь методами фотографической фотометрии, можно, конечно, по величине почернения фотопластинки в определенных линиях спектра производить также сравнение процентного содержания масс, соответствующих этим линиям. Однако, во-первых, методы фотографической фотометрии крайне кропотливы и не дают точных результатов, а во-вторых, определение процентного содержания изотопов можно производить гораздо быстрее и точнее с помощью приборов, называемых масс-спектрометрами. В этих приборах регистрация ионов определенной массы производится всегда не фотографическим, но электрическим путем - по величине заряда, переносимого ионами определенной массы, или по силе ионного тока. Благодаря этому определение процентного содержания не требует дополнительных измерений: показания электроизмерительного прибора просто пропорциональны числу ионов данного типа. [37]
Проверка па выполнение закона взаимозаменяемости экспериментально осуществляется, если построить две характеристические кривые почернений фотопластинки: один раз по маркам изменения интенсивности экспозиции, другой раз по маркам изменения времени экспозиции. [38]
Рентгеновские лучи, проходящие сквозь светонепроницаемые вещества, вызывающие флуоресценцию веществ и почернение фотопластинок, стали важным инструментом исследований. Природа рентгеновских лучей была установлена в 1912 г. Максом Лауэ, который обнаружил дифракцию этих лучей кристаллами. Рентгеновские лучи подобны световым, но с длиной волны, примерно в 5000 раз меньшей, чем у лучей видимой части спектра. По дифракции рентгеновских лучей были определены длины волн рентгеновского спектра для различных элементов и установлено расположение атомов в кристаллах. Тем самым были заложены основы структурной химии. Используя этот метод, английские физики Уильям Брэгг и его сын Лоуренс определили структуры примерно 20 кристаллических соединений. [39]
Эталлонный источник сравнения при этом совершенно не нужен, так как марки почернений фотопластинки, необходимые для построения характеристической кривой фотопластинки, можно получить различным способом с помощью любого вспомогательного источника света. Роль эталонного источника выполняет люмине-сцирующий слой, подчиняющийся закону Вавилова. [40]
Опытами было установлено, что все радиоактивные излучения обладают химическими действиями, вызывают почернение фотопластинок. Радиоактивные излучения вызывают ионизацию газов, а иногда и конденсированных тел, сквозь которые они проходят, возбуждают флуоресцентное свечение ряда твердых тел и жидкостей. [41]
Измерение интенсивности линий может быть проведено тремя методами: фотографическим ( измеряется интенсивность почернения фотопластинки), визуальным и фотоэлектрическим. Первый метод наиболее распространен, так как он более точен, позволяет использовать ультрафиолетовую часть спектра и допускает массовые анализы. [42]
Другая группа более трудоемких задач разрешается при расшифровке рентгенограмм на основании определения степени почернения фотопластинки, зависящей от интенсивности интерферирующих в разных направлениях рентгеновых лучей. [43]
Количественные измерения в масс-спектрометрии проводят по току, фиксируемому детектором, или по почернению фотопластинки. [44]
Количественные измерения в масс-спектрометрии производят по величине тока, фиксируемого детектором, или по почернению фотопластинки. [45]
Страницы: 1 2 3 4