Cтраница 1
Минимальное почернение, измеряемое непосредственно рядом с аналитической линией определяемого элемента ео стороны коротких волн. [1]
Минимальное почернение, изменяемое непосредственно рядом с аналитической линией определяемого элемента со стороны длинных волк. [2]
Величину Yu желательно рассчитывать как среднее из минимальных почернений, измеренных с обеих сторон линии. Если, однако, значение у велико ( например, 2 - 3), то на одной ступеньке фильтра невозможно измерить почернения фона и линии. В то же время линию измеряют на ступеньке с более низким пропусканием. [3]
МНЖМц 30 - 0 8 - 1 ( проба на катоде) почернения линий Мп 2637 64 и Fe 2689 21 сравнивают с минимальным почернением фона со стороны более коротких волн - почернения линий РЫ 2873 32; Zn 3072 06; Mg 2775 69 и Si 2435 16 - с минимальным почернением фона со стороны более длинных волн. [4]
А ( 0 0009 - 0 0071 %) ( при повышенном содержании железа возможно наложение линий этого элемента на первую из указанных линий висмута и линию сурьмы), В качестве внутреннего стандарта используется фон, измеряется его минимальное почернение на участке, ближайшем к аналитической линии со стороны более коротких волн. [5]
Такой способ сравнения позволяет уменьшить количество вводимых коррекций, поскольку примеси в стандартном образце и в анализируемой пробе регистрируются в одинаковых условиях, а уравнение (3.13) упрощается, так как отношение концентраций сравниваемых элементов эквивалентно отношению экспозиций, соответствующих минимальным почернениям линий. [6]
МНЖМц 30 - 0 8 - 1 ( проба на катоде) почернения линий Мп 2637 64 и Fe 2689 21 сравнивают с минимальным почернением фона со стороны более коротких волн - почернения линий РЫ 2873 32; Zn 3072 06; Mg 2775 69 и Si 2435 16 - с минимальным почернением фона со стороны более длинных волн. [7]
Будем считать, что на эмульсию падают параллельные пучки лучей. На рис. 42.9, а показаны плоскости максимальных и минимальных почернений для волн, перпендикулярно падающих на поверхность эмуль - л) f 2 3 сии. На рис. 42.9, б показаны пучности для волн, падающих наклонно. В первом случае плоскости максимального почернения ( после обработки фотопластинки) будут располагаться параллельно фотопластинке. [8]
В полуколичественном методе оценки концентраций примесей обычно пользуются визуальным способом, заключающимся в определении экспозиций, на которых становятся заметными линии изотопов основы и примесей. Здесь предполагается, что отношение концентраций примеси и основы пропорционально минимальному почернению линий с учетом величины экспозиций. [9]
Большинство приборов оснащены устройствами для установки нуля и полной шкалы. Пол ную шкалу можно установить по пропусканию в области, непосредственно примыкающей к измеряемой линии, по пропусканию в области минимального почернения, по пластине, свободной от эмульсии, или по пропусканию без пластины. [10]