Фотоэлектрический приемник - излучение
Cтраница 1
Фотоэлектрические приемники излучения отличаются от термоиндикаторов более высокой чувствительностью и меньшей инерционностью. Они легко сочетаются с обычными усилительными устройствами, широко применяются для приема когерентного излучения. Рассмотрим подробнее основные параметры и характеристики фотоэлектрических приемников, необходимые для выбора оптимального приемника при измерении слабых световых потоков. [1]
Использование фотоэлектрических приемников излучения в поляриметрах позволяет значительно повысить их чувствительность и скорость выполнения измерений, проводить измерения в ультрафиолетовой и инфракрасной областях спектра и исследовать вещества, обладающие большой оптической плотностью. Измерения с помощью объективных поляриметров подобны измерениям с помощью визуальных приборов. [2]
К достоинствам фотоэлектрических приемников излучения следует отнести большой диапазон линейности сигнала на выходе относительно количества падающего излучения; чувствительность в широком диапазоне длин волн; оперативность получения информации; возможность регистрировать очень малые количества квантов излучения вплоть до регистрации отдельных фотонов. [3]
В качестве наиболее употребительных фотоэлектрических приемников излучения следует назвать фотоэлементы с запирающим слоем ( главным образом селеновые), фотоэлементы с внешним фотоэффектом ( вакуумные) с различными катодами и фотоэлектронные умножители. [4]
Однако предельная чувствительность фотоэлектрических приемников излучения ( как и других физических измерительных приборов) лимитируется не достижимым усилением сигнала, а собственными шумами измерительного устройства. Собственными шумами называют случайные, нерегулярные изменения ( флуктуации) сигнала, вносимые самим прибором. Ясно, что одновременное усиление сигнала и шума не даст никакой выгоды. Поэтому реальные возможности регистрации и измерения слабых световых потоков определяются отношением полезного сигнала к шуму. В тех случаях, когда измеряемый поток значительно превосходит предел чувствительности, шумами определяется погрешность измерений. [5]
Принципиальным отличием и преимуществом фотоэлектрических приемников излучения перед калориметрическими ( при решении задач импульсной фотометрии) является малая инерционность этих приемников. Поэтому на их основе созданы приборы для измерения мгновенных мощностей в импульсе и для измерения формы импульса. [6]
 |
Спектральные характеристики фотокатодов.| Спектральные характеристики Na - К катода при i различной ориентации плоскости поляризации падающего света. [7] |
Они обычно и применяются в фотоэлектрических приемниках излучения. [8]
Более широкой областью спектральной чувствительности характеризуются фотоэлектрические приемники излучения на основе внутреннего фотоэффекта в полупроводниках. Поглощение фотона с энергией, превышающей энергетический интервал между заполненной валентной зоной и свободной зоной проводимости, приводит к образованию пары неравновесных носителей тока - электрона и дырки. Красная граница внутреннего фотоэффекта определяется шириной запрещенной зоны. Она зависит от природы полупроводника и может лежать в области значительно более длинных волн, чем у приемников с внешним фотоэффектом. [9]
Объективный пирометр, в котором применяется фотоэлектрический приемник излучения, называют фотоэлектрическим пирометром. [10]
 |
Схема ( а и устройство фотодиода ( б. [11] |
До последнего времени в спектроскопии преобладают фотоэлектрические приемники излучения с внешним фотоэффектом - сюда относятся не только фотоэлементы и фотоумножители, но и ЭОПы, ЭОУ и телевизионные трубки. [12]
Величина ослабления светового потока регистрируется с помощью фотоэлектрического приемника излучения. [13]
 |
Вид АКИУ при воздействии на него различных факторов. [14] |
Кроме рельефа зеркал экспериментально исследовано одновременное влияние зонной чувствительности фотоэлектрического приемника излучения и неравномерной освещенности зеркал ИФП на АКИУ. Для изучения влияния этих двух факторов последовательно регистрировали сигналы от различных участков ИФП, освещенного исследуемым источником излучения. Из рис. 35 видно, что функция Ф может сильно меняться по поверхности зеркал ИФП и не обладать осевой симметрией. [15]
Страницы: 1 2 3