Применение - метод - дифракция
Cтраница 1
Применение метода дифракции на отражение высокоэнергетичных электронов ( RHEED) для исследования структуры поверхности образцов Si ( l 11) и Bi2Sr2CaCu2Ov представлено в обзоре [29], содержащем 7 ссылок. Приведены сведения о сверхпроводниках состава Bi2Sr2CaCu2Og и Nd2 - xCexCuO4 в виде монокристаллов. [1]
 |
Кристаллическая решетка пиррофилита.| Электрономикроскопи-ческий снимок хромосомной. [2] |
Применение метода дифракции электронов также ограничено твердыми объектами. [3]
Возможность применения метода дифракции медленных электронов ( ДМЭ) для изучения поверхностных явлений связана с малой проникающей способностью электронов при энергиях от нескольких электронвольт до сотен электронвольт и с тем фактом, что длина электронной волны ( 150 / В) 1 / 2 оказалась подходящей для дифракции на кристаллических решетках твердых веществ. Показано, что для электронов с энергиями не выше 250 - 300 эВ заметный вклад в образование дифракционной картины вносят только два или три верхних слоя атомов поверхности, причем основной вклад приходится на первый монослой. Из-за малой проникающей способности электронов дифракционная картина по многим характеристикам больше похожа на картину дифракции света от двумерной решетки, чем на дифракцию рентгеновских лучей от трехмерной решетки кристаллов. Чтобы оценить эти различия, целесообразно сравнить дифракционные картины рентгеновских лучей и ДМЭ. Для получения лауэграмм используют узкий пучок белого рентгеновского излучения, перпендикулярно падающий на монокристалл. От непрозрачного кристалла и рентгеновские лучи и медленные электроны отражаются и появляются с той же стороны кристалла, откуда падает исходный пучок. Серии брэгговских отражений от разных рядов плоскостей в кристалле образуют дифракционную картину. Эти отражения можно получить в виде маленьких точек на фотопленке, помещенной на расстоянии нескольких сантиметров от кристалла перпендикулярно падающему лучу. Каждая точка соответствует брэгговскому отражению от одного ряда атомных плоскостей при одной длине волны. [4]
Благодаря применению метода дифракции рентгеновских лучей не так давно удалось установить характер изогнутости полипептидных цепей в белках. [6]
Во время недавней дискуссии о целесообразности применения метода дифракции низкоэнергетических ( или медленных) электронов при исследовании гетерогенного катализа Джермер и Макрай [447] утверждали, что изучение катализа на поликристаллических поверхностях может скоро выйти из моды. Однако, как указывалось в предыдущем разделе, Кембол [428] и Бонд [422] пришли к весьма оптимистическому заключению относительно того, что имеется достаточно хорошее соответствие между характером катализа на напыленных пленках и на поликристаллических твердых телах. Поэтому мы считаем необходимым рассмотреть влияние физического состояния твердого тела на его каталитические свойства. Для этого нельзя найти более подходящей области, с которой эта тема была бы столь тесно связана, как обсуждение последних результатов изучения дифракции электронов. Некоторые из обнаруженных при этом фактов имеют фундаментальное значение. [7]
 |
Изображение на плоскости структуры натриевосиликатного стекла. [8] |
Хартлиф [8] утверждали, что результаты, полученные при применении метода дифракции рентгеновских лучей, не подтверждают точки зрения о случайном распределении модифицирующих катионов по всей сетке. [9]
После того как методами ультрацентрифугирования установлено наличие четвертичной структуры у фермента, дальнейшее определение пространственного расположения субъединиц, очевидно, требует какого-либо другого подхода, например применения метода дифракции рентгеновских лучей. [10]
Определение положений атомов водорода во льду - трудная проблема, поскольку атомы водорода менее эффективно рассеивают рентгеновские лучи и электроны, чем атомы кислорода. Еще до применения метода дифракции нейтронов для выяснения этой проблемы было использовано несколько не прямых методов, которые мы сейчас рассмотрим. [11]
Это подтверждают результаты исследований с применением метода дифракции рентгеновских лучей; на дифрактограммах жидкости и стекла примерно в одних и тех же положениях имеются широкие диффузные кольца, в то время как для кристаллических материалов характерны четкие кольца. Структуры как стекла, так и жидкости характеризуются отсутствием дальнего порядка. Под этим мы подразумеваем отсутствие на значительных расстояниях систематической повторяемости атомов элементарной ячейки, характерной для кристаллических веществ. [12]
 |
Расположение атомов ( проекция на плоскость. Элементарная ячейка представляет собой квадрат. Малые атомы имеют координаты О О, большие У2 V2. [13] |
Метод изучения структуры кристаллов при помощи дифракции рентгеновских лучей, разработанный в 1912 г. немецким физиком Максом фон Лауэ ( 1879 - 1960) и усовершенствованный английскими физиками У. Г. Брэггом ( 1862 - 1942) и У. Л. Брэггом ( 1890), позволил получить весьма ценные результаты, особенно за последние десятилетия. Очень многие сведения о молекулярной структуре, приводимые на страницах данной книги, получены благодаря применению метода дифракции рентгеновских лучей. [14]
Применение метода электронной микроскопии для исследования коллоидных растворов ограничено тем, что для наблюдения в проходящем пучке объект должен быть в твердом состоянии и в исключительно тонком слое. Практически каплю раствора наносят на тончайшую коллодиевую пленку и выпаривают. Применение метода дифракции электронов также ограничено твердыми объектами. [15]
Страницы: 1 2