Cтраница 3
Ультрамикроанализ характеризуется тем, что для анализа берут навески величиной 0 01 - 0 10 мг. Определение проводят в очень малых сосудах и часто с применением микроскопа и манипуляторов. [31]
Основные принадлежности, прилагаемые к микроскопу, следующие: ножи правые и левые для измерения элементов резьбы, прямые ножи, планки и прижимы для ножей, цилиндрический аттестованный валик, упорная линейка со струбцинами, сменные центры, приспособление для верхнего освещения, плоский столик, V-образные люнеты ( призмы) для бесцентровой проверки. При помощи дополнительных приспособлений, изготовляемых потребителями, удается значительно расширить область применения микроскопа. [32]
В случае водяных капелек можно, например, покрыть стеклянную пластинку слоем желатина, содержащего краситель, хотя бы нафтоловый зеленый, предварительно установив соотношение между размерами получаемого пятна и самой капельки. Еще более простой и вместе с тем более чувствительный метод100 основан на применении фазоконтрастного микроскопа, дающего возможность видеть растекшиеся по поверхности желатина водяные капельки диаметром вплоть до 0 6 - 1 0 мк. [33]
В случае водяных капелек можно, например, покрыть стеклянную пластинку слоем желатина, содержащего краситель, хотя бы нафтоловый зеленый, предварительно установив соотношение между размерами получаемого пятна и самой капельки. Еще более простой и вместе с тем более чувствительный метод 10 основан на применении фазоконтрастного микроскопа, дающего возможность видеть растекшиеся по поверхности желатина водяные капельки диаметром вплоть до 0 6 - 1 0 мк. [34]
Проверка качества полированной поверхности кернов производится под микроскопом с 50-кратным увеличением при освещении кернов рассеянным светом. Контроль угла конуса и радиуса сферы керна осуществляется в специальной проекционной аппаратуре с помощью шаблонов при 500-кратном увеличении или с применением монукулярного микроскопа с насадкой при 100-кратном увеличении. [35]
Стружки, частицы и другие элементы, включаемые в состав древесностружечной плиты этой товарной позиции, можно легко различить на кромках плиты невооруженным глазом. Однако в некоторых случаях для различения частиц и элементов древесно-целлюлозных волокон, характеризующих древесноволокнистые плиты товарной позиции 4411, может потребоваться применение микроскопа. [36]
![]() |
Схематическое изображение устройства электрометров. а - 2 квадрантного. б - бинантного. в - дуантного. г - цилиндрического. д - линейного. е - струнного. ж - крутильного. [37] |
Отклонение нити, вызванное действием электростатических сил, наблюдается в микроскоп. Это отклонение является мерой измеряемой разности потенциалов. Применение микроскопа для отсчета измеряемой разности потенциалов обеспечивает довольно большую чувствительность струнного электрометра. Электрометры применяются в радиометрии, рентгенометрии и других областях науки и техники. [38]
Величина увеличения зависит от наблюдателя и расстояния до наблюдаемого объекта. Масштаб изображения ( отношение величины изображения А В к величине объекта АВ), напротив, является величиной, не зависящей от наблюдателя. Границы применения микроскопа определяются физической природой света и особенностями оптических линз. [39]
Более сложным отсчетным устройством является отсчетный микроскоп. Всякий микроскоп, даже с небольшим увеличением имеет преимущество перед лупой, заключающееся в том, что при работе с измерительной лупой надо шкалу ее совмещать с плоскостью измеряемого объекта. При применении микроскопа измеряемый объект ( например, основная шкала) располагается в предметной плоскости микроскопа, отстоящей на некотором расстоянии от объектива микроскопа. Это расстояние в зависимости от оптической силы: и конструкции объектива колеблется от долей миллиметра до десятков ( более сотни. [40]
Выполнение по чертежам, художественным рисункам и собственным композициям вручную особо сложных высокохудожественных граверных работ высокой точности со стильными надписями, с большим числом мелких знаков и штрихов на наружных и внутренних поверхностях изделий с соблюдением симметричности. Гравирование знаков с применением микроскопа на маркировочных пуансонах из легированной стали высотой от 0.3 до 1 мм, шириной от 0 2 до 0 6 мм и толщиной профиля знаков от 0 03 до 0.05 мм с выдержкой углов под 45 с допусками по линейным размерам от 0 03 до 0.05 мм. [41]
Выполнение по чертежам, художественным рисункам и собственным композициям вручную особо сложных высокохудожественных граверных работ высокой точности со стильными надписями, с большим числом мелких знаков и штрихов на наружных и внутренних поверхностях изделий с соблюдением симметричности. Гравирование знаков с применением микроскопа на маркировочных пуансонах из легированной стали высотой от 0 3 до 1 мм, шириной от 0 2 до 0 6 мм и толщиной профиля знаков от 0 03 до 0 05 чм с выдержкой углов под 45 с допусками по линейным размерам от 0 03 до 0 05 мм. [42]
Выполнение по чертежам, художественным рисункам и собственным композициям вручную особо сложных высокохудожественных граверных работ высокой точности со стильными надписями, с большим количеством мелких знаков и штрихов на наружных и внутренних поверхностях изделий с соблюдением симметричности. Гравирование знаков с применением микроскопа на маркировочных пуансонах из легированной стали высотой от 0 3 до 1 мм, шириной от 0 2 до 0 6 мм и толщиной профиля знаков от 0 03 до 0 05 мм с выдержкой углов под 45 с допусками по линейным размерам от 0 03 до 0 05 мм. [43]
При свете с длиной волны около 500 тр, с монобромнафталином в качестве иммерсионной жидкости ( га1 60) и ос, возможно более близким к 90, лучшие микроскопы в состоянии обнаружить частички около 200 тир, в диаметре. При использовании ультрафиолетового света с короткой длиной волны возможно обнаружить частички с диаметром 75 тр. Другим фактором, ограничивающим применение микроскопа, является необходимость наличия резко отличающихся показателей преломления частички и дисперсионной среды. Поэтому можно получить очень мало данных о размерах и форме истинно коллоидных частичек визуальным наблюдением в обычном микроскопе. Разработанный в последнее время электронный микроскоп имеет разрешающую силу, недостижимую-для обычного микроскопа. [44]
Всем перечисленным требованиям наиболее полно удовлетворяет аналитический метод, дающий возможность оперировать с малыми количествами вещества. Однако не всякий метод, позволяющий работать с малыми количествами вещества, может быть широко применим в производственных условиях. Так например, при работе микрокристаллоскопическим методом требуется применение микроскопа, тщательная подготовка испытуемого раствора, очистка реактивов и тому подобные операции, почти всегда отнимающие значительное количество времени. [45]