Применение - электронный микроскоп
Cтраница 1
 |
Изломы образцов из сплава Д1, испытанных при 0т а-0 65 0 05 ГН / м2. [1] |
Применение электронного микроскопа позволило выявить закономерности микростроения изломов, которые принято выделять в особую область фрактографии. Следует отметить, что микростроение изломов в некоторой степени повторяет их макростроение, хотя в ряде случаев такое подобие может в значительной степени оказаться чисто внешним. [2]
Применение электронного микроскопа позволяет исследовать структуру при увеличении более 50 тыс. раз. В основе электронной микроскопии лежит свойство различных структурных составляющих ( фаз) показному рассеивать электронные лучи. Схема хода лучей в электронном микроскопе в сравнении с оптической схемой оптического микроскопа приведена на рис. 2.17. Преломление электронного луча осуществляется электромагнитными линзами. Источником электронов является вольфрамовая спираль, испускающая электроны при высокой температуре. [3]
Применение электронного микроскопа дает возможность повысить чувствительность обнаружения хим. элементов до Ю-15 - ь 10 - 19 г. У. [4]
Применение электронного микроскопа для точных определений размеров [ в коллоидных системах многообразно и все еще находится в процессе развития и уточнения. В основании каждого измерения длины таким способом должно находиться абсолютно надежное определение увеличения электронного микроскопа. [5]
 |
Изломы образцов из сплава Д1, испытанных при ат а 0 65 0 05 ГН / м2. [6] |
Применение электронного микроскопа позволило выявить закономерности микростроения изломов, которые принято выделять в особую область фрактографии. Следует отметить, что микростроение изломов в некоторой степени повторяет их макростроение, хотя в ряде случаев такое подобие может в значительной степени оказаться чисто внешним. [7]
Применение электронного микроскопа имеет большое значение при изучении структуры консистентных смазок. [8]
Применение электронных микроскопов с высокой разрешающей способностью и мягких методов фиксации листьев и хлоропластов, которые позволяют получать препараты с относительно нативной ( ненарушенной) структурой, привело к тому, что стали известны многие детали строения мембран фотосинтетического аппарата. [9]
Применение электронного микроскопа для исследования саж [6] ( 1940 г.) значительно ускорило развитие представлений о сажевых структурах. Электронный микроскоп, позволяющий осуществить непосредственное наблюдение отдельных частиц сажи, частично подтвердил вышеуказанные гипотезы. Первичные частицы сажи имели сферическую форму, но они сплавлялись друг с другом и образовывали цепочки различной длины, которые можно было наблюдать в электронном микроскопе. В 1941 г. [ 7 была показана роль структуры сажи как одного из основных ее свойств. При этом под сажевой структурой понимают более или менее жесткую устойчивую трехмерную сетку, возникающую в сажах всех типов в момент их получения и изменяющую свою устойчивость в резиновой смеси. [10]
 |
Схема нефелометра. [11] |
Применение электронных микроскопов к изучению коллоидных растворов дает возможность установить правильную картину строения коллоидов. В электронном микроскопе непосредственно видны частицы высокодисперсных золей серебра, золота и других веществ. [12]
Применение электронного микроскопа дает возможность существенно повысить чувствительность определения. [13]
 |
Схема поликристаллического строения металла.| Схема блочной ( мозаичной струн туры кристалла. [14] |
Применение электронных микроскопов позволило обнаружить, что и внутри зерен нарушается правильное кристаллическое строение. Имеются участки, разориен-тированные относительно друг друга на несколько градусов. Такие участки называют фрагментами. [15]
Страницы: 1 2 3 4