Cтраница 1
Применение дифракционных решеток и их характеристики как оптических устройств, применяемых для монохроматизации излучения, будут рассмотрены в гл. [1]
Применение дифракционной решетки дает возможность использовать наложение спектров разных порядков для измерения длин волн. Этот прием особенно удобно применять в вакуумной ультрафиолетовой и инфракрасной областях спектра, где получение спектра сравнения часто связано со значительными трудностями. [2]
![]() |
Четыре возможные схемы расположения щелей автоколлпмациониого монохроматора с дифракционной решеткой. [3] |
Применение дифракционных решеток позволяет осуществить, в особенности в ультрафиолетовой области спектра, большую площадь действующего отверстия прибора ( входного коллиматора) по сравнению с призменными системами. Это важно, когда необходимо построить светосильный прибор с большой разрешающей способностью. [4]
Одним из важных неспектроскопических применений дифракционных решеток является измерение линейных перемещений по интерференционным муаровым полосам, возникающим при прохождении света через две определенным образом подобранные и установленные решетки. Для этой цели необходимы специальные решетки, называемые измерительными. Однако оказалось, что интерферометр из прозрачной и отражательной решеток [52] имеет существенные технические преимущества, которые будут отмечены ниже. Свойства его и применяемых в нем решеток проанализированы в [53] и кратко описаны в настоящем разделе. [5]
Поскольку общие вопросы применения дифракционных решеток в спектральных приборах достаточно полно изложены в отечественной литературе [4, 8, 9, 21 ], в данной работе основное внимание уделяется специальным вопросам применения решеток в рентгеновской области спектра, а также последним достижениям и новым перспективным идеям. [6]
Выходом из положения является применение дифракционных решеток, работающих сразу в нескольких порядках спектра, с разделением этих порядков вспомогательными диспергирующими элементами. [7]
![]() |
Схема хода лучей от источника S до фотоэлемента Ф через спектральный прибор. [8] |
Следует заметить, что применение дифракционных решеток позволяет, в особенности в ультрафиолетовой области спектра, осуществить большую площадь действующего отверстия прибора ( входного коллиматора) по сравнению с призмами. [9]
Таким образом, характеристики приборов, основанных на применении дифракционных решеток, в настоящее время близки к тем характеристикам, которые необходимы для спектроскопии высокой разрешающей силы. Но интерферометр Фабри-Перо все еще остается непревзойденным по своей разрешающей силе и светосиле во многих областях спектра. Поскольку у него мала область дисперсии ( - 1 А), его иногда приходится применять в схемах со скрещенной дисперсией. [10]
Следовательно, кривизна линий в полихроматоре с зеркальным фокусирующим объективом может быть компенсирована его дисторсией и искривлением ножей щели только в случае применения дифракционной решетки, причем далеко не всегда. [11]
По конструкции и методике работы аналогичен СФ-4А. Применение дифракционной решетки 600 штрихов / мм улучшает его дисперсию в видимой и ближней инфракрасной областях. [12]
![]() |
Схема устройства счетного датчика торсио-метра со счетом муаровых полос. [13] |
При диаметре среднего кольца 90 мм, толщине 3 мм и ширине 30 мм максимальная деформация составляет 3 1 мм. Применение дифракционных решеток ГОИ с 1200 штрихами на 1 мм обеспечивает погрешность кзантования ( 1 / 2 импульса), равную 0 015 % от номинального значения измеряемой величины. [14]
Большинство задач эмиссионного анализа решается при использовании спектральных линий, расположенных в видимом, ближнем ультрафиолетовом ( УФ) и инфракрасном ( ИК) участках спектра. В соответствии с этим чаще всего применяются спектрографы, работающие в интервале длин волн 200 - 1000 нм. Они строятся как с применением дифракционных решеток, так и приз-менных систем. В последнем случае приборы подразделяются на две группы: 1) для УФ-области спектра и 2) для видимой и ближней ИК-области. В приборах первого типа призмы и другие оптические детали обычно изготовляются из кварца, в приборах второго типа - из стекла. [15]