Cтраница 5
Применение масс-спектрометров и масс-спектрографов для определения остаточных давлении в области глубокого вакуума основано на принципе отклонения частиц в электрическом и магнитном полях. Различие заключается только в методе регистрации отклоненных частиц: в масс-спектрометрах число ионов определяют по создаваемому ими току, а в масс-спектрографах - по степени почернения фотопластинки. [61]
Впредь до формализации целевых функций управления можно, во-первых, использовать распространенный в теории регулирования принцип отклонений: осуществлять минимизацию отклонений от заданного плана, во-вторых, применять частные показатели, не противоречащие представлениям о характере поведения неформализованного критерия. [62]