Принцип - сканирование
Cтраница 1
Принцип сканирования П - го поколения - источник и детектор линейно перемещаются, объект контроля вращается и перемещается продольно. [1]
 |
Схемы установок для определения гранулометрического состава загрязнений методом светорассеяния. [2] |
Принцип сканирования использован в приборах английских фирм Castella Electronics, Haider and Watts и некоторых других. Конструкция включает микроскоп с качающимся столиком, фотоумножитель, установленный позади щели регулируемой ширины, усилитель сигналов, амплитудные дискриминаторы импульсов и фотоэлектронные счетчики. Амплитудный дискриминатор позволяет устанавливать нижние пределы подсчета частиц на разных уровнях измерения. Дифференцируя суммарные результаты, получают общее распределение частиц по размерам. [3]
Исходя из принципа электромагнитного сканирования, азимутально-од-нородные по удельному сопротивлению интервалы разреза должны выделяться совпадением азимутальных кривых электромагнитного каротажа. [4]
Работают по принципу сканирования световым или электронным пучком. Сумма измеряемых значений дает тем более точное описание объекта, чем тоньше применяемый растр. [5]
Работают по принципу сканирования световым или электронным пучком. Сумма измеряемых значений дает тем более точное описание объекта, чем тоньше применяемый растр. [6]
Имитационная модель построена по принципу сканирования в моменты появления в системе сигналов и окончания обработки сигналов ( ликвидации отклонений); по числу различных значений п ( п 1 - г - 7, 9, 11) выполнено девять вариантов исследования модели системы. Моделирующий алгоритм, разработанный по нашей просьбе для экспоненциального закона распределения времени обслуживания А. А. Вдовиным и его сотрудниками в лаборатории теоретико-вероятностных методов ЦНИИКА, состоит из трех основных блоков. [7]
 |
Измерение дефекта при помощи сателлит-ных эхо-импульсов при помощи преобразования моды волны на кромке ( поверхностная волна R. [8] |
Хорошо отработанные методы, основанные на принципе сканирования, описаны в разделе способов визуализации изображения. Для них всегда требуются повышенные затраты на механическую и электронную часть. [9]
 |
Схема линзового эндоскопа. [10] |
Таким образом, в этих приборах реализуется принцип комбинированного сканирования объекта - высокоточного сканирования в малом поле измерения и менее точного сканирования, но имеющего большие пределы перемещения. [11]
Аппаратура, используемая в этих исследованиях, работает по принципу сканирования ( автоматически или вручную) с применением различных высокочувствительных приемников инфракрасного излучения. [12]
 |
Схема сканирующего телевизионного микроскопа Квантимет. [13] |
Значительным прогрессом в аппаратурном обеспечении количественной металлографии явилось создание приборов, действие которых основано на принципе сканирования микроструктуры световым лучом. Используют два принципиально различных метода сканирования. При сканировании щелью пользуются узкой щелеобраз-ной апертурой, расположенной перпендикулярно к линии сканирования. Высота сканирующей щели при этом превышает средний линейный размер ( поперечник) микрочастиц. При сканировании пятном световой луч прочерчивает линию, ширина которой ( равная диаметру пятна) должна быть возможно меньшего размера и значительно меньше среднего линейного размера микрочастиц. Процесс сканирования пятном подобен анализу микроструктуры с применением секущих линий. [14]
Разрешение порядка 0 2 - 0 3 нм достигается в просвечивающих электронных микроскопах, в которых не используется принцип сканирования. Изображение в микроскопах такого типа получают по схеме, близкой к применяемой в оптической микроскопии. Электронный пучок, прошедший сквозь тонкий исследуемый образец, расширяется за счет взаимодействия с ним и фокусируется на плоскости изображения. Регистрация изображения осуществляется фотографическим способом. [15]
Страницы: 1 2 3