Cтраница 2
Омическая система с ot - Печетйым ycTpoitetBOM1 состоит йа осветители 7, полупрозрачной шкалы 8 и зеркала. В диафрагме осветителя установлена нить, изображение которой проектируется на шкалу в виде теневого штриха на фоне светлого пятна, У приборов с таким отсчетным устройством угол отклонения однократно отраженного зеркалом луча ( светового пятна с изображением нити) в 2 раза больше угла поворота рамки. Милливольтметры со световым указателем обеспечивают беспарал-лаксный отсчет показаний. [16]
Просматривают каплю сначала при слабом, а затем и при сильном увеличении. Чтобы лучше видеть, сужают диафрагму осветителя микроскопа. Этот метод хорошо использовать для определения, общей морфологии и подвижности организмов. [17]
При измерении бесконтактным проекционным методом центральная штриховая линия сетки окулярной головки или экрана поочередно визируется на диаметрально противоположные стороны профиля резьбы так, чтобы перекрестие было примерно в середине высоты профиля. Для точного измерения d2 необходимо установить диаметр диафрагмы осветителя в соответствии со значениями rf2 и ее. Бесконтактный метод измерения вследствие значительного искажения профиля резьбы дает большую погрешность. [18]
Правильно установить апертурную диафрагму 5 осветителя. Для этого вынуть окуляр и, глядя на отражательное зеркало 18, где проектируется изображение светового поля объектива и апертурной диафрагмы, добиться того, чтобы апертур-ная диафрагма осветителя заполнила светом 75 / о поля объектива. Так достигается оптимальное сочетание хорошей контрастности при наименьшей потере разрешающей способности микроскопа для объективов-ахроматов. При большем раскрытии апертурной диафрагмы уменьшается четкость и контрастность изображения вследствие появления рассеянного света и сферической аберрации. При меньшем раскрытии уменьшается разрешающая способность микроскопа. [19]
Голова испытуемого фиксирована в подбороднике 1, а на одном пз глаз расположена присоска 2 с плоским зеркалом. Узкий пучок света от осветителя 3, снабженного диафрагмой и объективом, отражаясь от зеркала присоски 2 попадает на кассету 4 с фотопленкой. Изображение диафрагмы осветителя фокусируется с помощью объектива так, чтобы на поверхности фотопленки было небольшое светлое пятно диаметром 1 - 3 мм. [20]
Оптическая схема мнкроинтерферометра Линника. [21] |
Объектив 06t дает вторичные изображения полевой диафрагмы вместе с изображениями поверхностей зеркал в общем люке выхода Л Л прибора. Коллимационная линза О, как обычно, служит для сочленения диафрагм осветителя и интерферометра. [22]
Схемы измерений параметров резьб на микроскопах. [23] |
На микроскопах основные параметры наружной резьбы измеряют теневым методом в проходящем свете. Проверяемое изделие, например калибр-пробку, закрепляют в центрах. Предварительно ось центров устанавливают параллельно продольному ходу стола с помощью контрольного валика, входящего в комплект принадлежностей. Диафрагму осветителя выбирают по инструкции, прилагаемой к микроскопу, в зависимости от среднего диаметра резьбы. Объектив микроскопа наводят на резкое изображение. [24]
Универсальный микроскоп УИМ 21. [25] |
Универсальный микроскоп УИМ-21 ( рис. 77) имеет станину /, продольную 3 и поперечную 13 каретки. На продольной каретке закрепляются специальные предметные столы, центровые бабки 12 и другие принадлежности для установки изделий. На поперечной каретке смонтированы осветительная система и колонка 8, на кронштейне которой закреплен главный микроскоп 9 с угломерной окулярной головкой. Маховик 10 служит для наклона головки, маховик 11 - для регулирования диафрагмы осветителя. Перемещения измеряют по стеклянным миллиметровым шкалам 5, укрепленным на каретках, с помощью неподвижных отсчетных микроскопов 6 и 7 ценой деления 1 мкм. [26]
После центрирования осветителя с ним совмещают микроскоп. Для этого, надев предварительно на окуляр защитный желтый светофильтр Т-2 Н ( для удаления синих лучей) и поместив на предметный столик микроскопа какой-нибудь предмет, поворачивают зеркало микроскопа так, чтобы лучи осветили объект. Перемещая тубус микроскопа, добиваются резкого изображения предмета. Устанавливают наименьшие отверстия ирисовых диафрагм конденсора микроскопа и осветителя и, не меняя фокусировки микроскопа, перемещают конденсор вверх и вниз до тех пор, пока в окуляре не будет видно резкого изображения полевой диафрагмы осветителя. Если изображение полевой диафрагмы окажется сбоку, то, повернув зеркало микроскопа, переводят его в центр поля, затем диафрагму конденсора микроскопа раскрывают полностью, а диафрагму осветителя - так, чтобы ее изображение было немного больше поля зрения микроскопа. [27]