Cтраница 1
Проблема начальных фаз является центральной в структурном анализе. [1]
Проблема начальных фаз в центросимметричном кристалле не снимается, так как из эксперимента не следует, какое из двух возможных значений фазы имеет каждый дифракционный луч. Она лишь превращается в проблему знаков структурных амплитуд. Многозначная неопределенность снижается до двузначной неопределенности в каждом отражении. [2]
Проблема начальных фаз является центральной в структурном анализе. [3]
Проблема начальных фаз в центросимметричном кристалле не снимается, так как из эксперимента не следует, какое из двух возможных значений фазы имеет каждый дифракционный луч. Она лишь превращается в проблему определения знаков структурных амплитуд. Многозначная неопределенность снижается до двузначной неопределенности в каждом отражении. [4]
Проблема начальных фаз является центральной в структурном анализе. [5]
Проблема начальных фаз в центросимметричном кристалле не снимается, так как из эксперимента не следует, какое из двух возможных значений фазы имеет каждый дифракционный луч. Она лишь превращается в проблему знаков структурных амплитуд. Многозначная неопределенность снижается до двузначной неопределенности в каждом отражении. [6]
В действительности же проблема начальных фаз препятствует такому простому решению вопроса. [7]
Существуют два метода решения проблемы начальных фаз - метод Паттерсона и статистич. [8]
Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы начальных фаз, наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографиче-ского. Во втором издании расширены ключевые разделы современного реитгеноструктуриого анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз ( знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. [9]
Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы начальных фаз, наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографиче-ского. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз ( знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. [10]
С другой стороны, в применении к структурам без центров инверсии метод наложения и минимализации обладает, в принципе, огромным преимуществом перед любым другим методом: двукратное применение минимализации приводит к атомному мотиву, минуя все затруднения, связанные с проблемой начальных фаз. В этом отношении наиболее благоприятны не-центросимметричные структуры с тяжелыми атомами, образующими одну правильную систему точек, кратности большей двух. Максимумы, их соединяющие, выделяются достаточно четко и имеются в количестве, достаточном для двукратной минимализации. [11]
В первых двух главах рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения. Третья и четвертая посвящены изложению методов решения проблемы начальных фаз. В пятой главе даны наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Здесь же сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтроногра-фического и электронографического. В приложении приведены данные об основных комплексах программ структурных расчетов на ЭВМ различных типов, используемых в нашей стране. [12]
В первых двух главах рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения. Третья и четвертая посвящены изложению методов решения проблемы начальных фаз. В пятой даны приложения структурных исследований в химии. Здесь же сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и элек-троно графического. В приложении приведены данные об основных комплексах программ структурных расчетов на ЭВМ различных типов, используемых в нашей стране. [13]
В первых двух главах рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения. Третья и четвертая посвящены изложению методов решения проблемы начальных фаз. В пятой глаЪе даны наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Здесь же сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтроногра-фического и электронографического. В приложении приведены данные об основных комплексах программ структурных расчетов на ЭВМ различных типов, используемых-в нашей стране. [14]
Проблема упрощается в применении к структурам, имеющим ( среди других элементов симметрии) центры инверсии, поскольку в их присутствии неопределенность начальной фазы отражений сводится к двузначности знака его структурной амплитуды. Не удивительно поэтому, что именно по отношению к центросимметричным структурам удалось разработать несколько методов решения проблемы начальных фаз, ценность которых была доказана успешным применением их в практике расшифровки ряда сложных структур кристаллов. Эти методы и рассматриваются на последующих страницах. [15]