Cтраница 3
Как показывает опыт проверки на устойчивость транзисторов к пониженному давлению, допустимая мощность рассеяния, указываемая для нормальных условий, должна быть снижена в два раза для давления 5 мм рт. ст. При этом сохраняется тот же запас по мощности относительно мощности, при которой температура перехода достигает максимального значения для данного типа полупроводникового прибора. Процесс проверки транзисторов ( или диодов) производится следующим образом. [31]
Самая простая проверка исправности транзистора может быть произведена при помощи обычного омметра, в котором используется батарея с напряжением, не превышающим 10 в, например тестер типа ТТ-1, ампервольтомметр типа АВО-5. При проверке транзистора с помощью омметра необходимо подключить один из его зажимов к базе триода, а другой - поочередно к эмиттеру и коллектору. Если к базе триода подключен положительный зажим омметра, то для исправного триода типа р - п - р оба измерения должны дать значения сопротивлений, лежащие в интервале от 0 1 до 5 Мом. Обычно обратное сопротивление эмиттерного перехода бывает больше, чем у коллекторного. [32]
А для этого твое хозяйство должно пополниться еще одним измерительным прибором первой необходимости - для проверки транзисторов. [33]
При контроле транзисторов второй группы приходится изгибать их выводы, что может привести к их поломке. Если сделать на колодке четыре контакта и расположить их следующим образом: эмиттер - - основание - коллектор - эмиттер ( два эмиттерных контакта соединяются между собой), то можно проверять транзисторы любого типа, не изгибая их выводов. При проверке транзисторов первой группы используются первые три контакта ( гнезда), а при проверке транзисторов второй группы - - последние три контакта. [34]
Ввиду того что ремонтировать транзисторные телевизоры сложнее, чем ламповые, в книге Освещается последовательность проверки транзисторов и узлов для некоторых типов телевизоров, приводятся признаки встречающихся неисправностей в телевизорах цветного изображения. Для остальных моделей дана общая л & тодика обнаружения и устранения неисправностей. Рассматриваются методы проверки транзисторов без выпаивания их из схемы. Дана схема миниатюрного микромодульного генератора сетчатого поля для статического и динамического сведения лучей в цветных телевизорах. [35]
При контроле транзисторов второй группы приходится изгибать их выводы, что может привести к их поломке. Если сделать на колодке четыре контакта и расположить их следующим образом: эмиттер - - основание - коллектор - эмиттер ( два эмиттерных контакта соединяются между собой), то можно проверять транзисторы любого типа, не изгибая их выводов. При проверке транзисторов первой группы используются первые три контакта ( гнезда), а при проверке транзисторов второй группы - - последние три контакта. [36]
Рассмотрим теперь простейший метод проверки транзисторов. Мы уже говорили, что полупроводниковые триоды представляют собой как бы два диода, включенных навстречу друг другу. Если же к базе проверяемого прибора будет подключен отрицательный полюс внутренней батареи авометра ( щуп, который до этого подключался поочередно к эмиттеру и коллектору испытуемого транзистора), а второй ( общий минус тестера ТТ-1) так же, как и при первом измерении, подключить к эмиттеру или коллектору проверяемого транзистора, то у исправных маломощных приборов величина сопротивления будет равной 20 - 50 ом, а у мощных - не более 20 ом, так как в этом случае оба перехода будут открыты. При проверке транзисторов со структурой п-р - п наблюдается обратная картина - в первом случае оба перехода будут открыты, а во втором закрыты. [37]