Теневая проекция

Cтраница 1

Примеры колебаний одинакового периода, но разной формы. [1]

Теневая проекция получены путем опускания на пря - шарика, движущегося по мую АВ перпендикуляров из точек окружности. [2]

Теневая проекция была широко известна еще в античном мире. [3]

Метод теневой проекции представляет собой видоизмененный метод светового сечения. Он удобен для исследования сравнительно грубых поверхностей. Принцип метода заключается в том, что на исследуемую поверхность направляют пучок света под некоторым углом и на пути этого пучка располагают экран с прямолинейными краями настолько близко к поверхности, что рассеяние лучей, вызванное конечными размерами источника света, невелико. Граница тени при отражении световых пучков от поверхности представляет собой теневую картину профиля того участка, против которого находится экран. [4]

Схема измерения параметров шероховатости методом светового сечения.| Блок-схема лазерного профилографа. [5]

Метод теневой проекции отличается от описанного тем, что граница между светом и тенью создается острием ножа. [6]

Схема прибора теневой проекции ПТС-1 представлена на рис. 31, а. Пучок лучей от источника света 5 освещает щель Щ, которая проектируется объективом О на поверхность РР испытуемого образца. На эту поверхность под углом 60 к ней и к оптической оси визуального микроскопа ОхОа накладывают лезвием к поверхности острый нож / С, например лезвие безопасной бритвы. [7]

Угловые осцилляции геометрического резонанса в цинке.| Восстановленные сечения линз плоскостью ( 1120 в кадмии ( в и цинке ( о. [8]

Авторам удалось восстановить теневые проекции ПФ сурьмы на все кристаллографические плоскости и показать, что форма ПФ существенно отличается от эллиптической, а спектр - от квадратичного. [9]

Прибор теневого сечения. [10]

Измерение изображения неровностей теневой проекции выполняют с помощью винтового окулярного микрометра МОВ-1-Х15, цену деления круговой шкалы барабана которого определяют с помощью ступеньки определенной высоты, образованной притер-ть Ши к стальной или стеклянной пластине концевыми мерами различной длины, например с разностью длин 100 или 200 мкм. Осветителем служит лампочка накаливания 8 В, 20 Вт, включаемая в сеть переменного тока через трансформатор ТР8 - 100 - 220 / 8 В. Линейное поле зрения составляет соответственно 11; 6 3 и 2 9 мм. [11]

Шаблон для нанесения порошкообразных. [12]

Межэлектродное расстояние устанавливают методом теневой проекции. [13]

Прибор теневого сечения. [14]

Иными словами, при наблюдении теневой проекции в поле зрения измерительного микроскопа масштабы по осям абсцисс и ординат одинаковы. [15]

Страницы: 1 2 3 4