Cтраница 1
![]() |
Изменение относительной температуры центра в зависимости от режима выпечки зеркальными лампами. [1] |
Проникновение лучей в толщу выпекаемого изделия существенно влияет на характер полей температуры и влажности. [2]
![]() |
Температурные кривые пшеничного теста-хлеба при различных режимах инфракрасной выпечки и выпечки в электропечи. [3] |
При выпечке хлеба инфракрасными лучами важную роль играет проникновение лучей в массу изделия, что предотвращает перегрев ( сжигание) его открытой поверхности. Проникновение инфракрасных лучей в тесто-хлеб на некоторук глубину является одним из основных факторов, обусловливающих успешность применения этого метода выпечки. [4]
Недостатками его являются потребность в предварительно осветленной воде, так как наличие коллоидных и взвешенных частиц препятствует проникновению лучей в толщу воды, а также отсутствие последействия ультрафиолетовых лучей, что особенно важно при повторном заражении воды. [5]
Основные источники ошибок: эксцентриситет образца ( ось поворота для изменения углов дифракции не лежит в плоскости образца), конечная глубина проникновения лучей в образец, вертикальная расходимость пучка ( для отечественных дифрактометров, в которых ось поворота для изменения углов дифракции вертикальна), конечная ширина приемной щели детектора, погрешность в определении нулевого положения счетчика. Эти ошибки могут быть устранены или их влияние резко уменьшено при правильной юстировке прибора и выборе оптимальной геометрии прямого и дифрагированного излучений. [6]
Затруднения связаны с тем, что, с одной стороны, желательно знать простейшие закономерности для учета эффектов влияния основы и мешающих компонентов, а также концентрации самого определяемого элемента на интенсивность спектральных линий, а с другой - очень важно знать точные значения массовых коэффициентов поглощения, глубину проникновения лучей в пробу и другие параметры, требуемые для выполнения расчетов. [7]
Радиографический контроль осуществляют с помощью рентгеновских или гамма-лучей при их прохождении через стенки трубы или аппарата, а данные просвечивания записывают на пленку. Степень проникновения лучей зависит от материала и его толщины. Для расчета истинной толщины трубы этот метод самый легкий и быстрый. Обычно профильную радиографию рассматривают как дополнительную к ультразвуковому контролю, где применение ультразвукового датчика невозможно, и там, где следует получить полное представление о геометрии язв и питтингов. Радиографические измерения применяют, главным образом, для обнаружения глубоких язв и питтингов. Этим методом получают четко фиксированную картину коррозионных поражений. [8]
При этом получают интегральную картину состояния не поверхности, а слоя некоторой толщины, так как рентгеновские лучи проникают в металл на определенную глубину. Для Со-из-лучения глубина проникновения лучей при 50 % - ном ослаблении их интенсивности для стали составляет 5 - 7 мк. Таким образом, при рентгенографировании слоя, полученного шлифованием и доводкой, происходит некоторое усреднение результатов. [9]
Солнечная радиация сама по себе, по-видимому, не опасна, но космические лучи могут создавать серьезные трудности. Так как защита от проникновения лучей северного сияния и космических лучей, по-видимому, неосуществима, гидравлические системы космических кораблей должны выдерживать такие облучения. [10]
Интенсивности р-лучей в большинстве случаев определяют с помощью счетчиков, а не ионизационных камер. Поэтому уменьшение ионизации при проникновении лучей в прибор не играет роли, коль скоро это проникновение вообще возможно. В случае Р - лучей, однако, число частиц в пучке заметно уменьшается даже тонкими поглотителями. Вычисление здесь вряд ли возможно. [11]
Для защиты полимеров от действия света применяют специальные вещества - стабилизаторы. Их действие основано на способности поглощать ультрафиолетовые лучи и задерживать проникновение лучей к полимеру. [12]
Для защиты полимеров от действия света применяют специальные вещества - стабилизаторы. Их действие основано на способности поглощать ультрафиолетовые лучи и задерживать проникновение лучей к частицам полимера. [13]
Второй особенностью сушки материалов инфракрасными лучами является проникновение инфракрасных лучей на некоторую глубину внутрь материала. Например, при сушке песка, сухарей и других пористых материалов глубина проникновения лучей составляет 3 - 5 мм, благодаря чему на этой глубине устанавливается более высокая температура, чем на поверхности материала. [14]
Качество изогнутых кристаллов является важным фактором для окончательного суждения о том, насколько спектрографы с такими кристаллами могут конкурировать со спектрографами, в которых используется коллимация и плоский кристалл. Размытие фокуса, образуемого изогнутыми кристаллами, может быть вызвано следующими тремя причинами: 1) проникновением лучей ( более глубокое в области коротких длин волн) в кристалл, приводящим к возникновению отражений, от плоскостей, расположенных не на фокальной окружности; 2) усилением мо-заичности структуры кристалла в процессе его изгиба и шлифования; 3) невозможностью идеально точного изгиба и шлифовки кристалла. Желательно приобрести более широкий опыт, который позволит лучше судить о достоинствах изогнутых кристаллов при их использовании для целей аналитической химии. Такой опыт несомненно будет скоро накоплен. [15]