Проникновение - рентгеновские лучей
Cтраница 1
 |
Инструментальные функции, вызывающие искажения профиля дифракционного пика и определяющиеся. [1] |
Проникновение рентгеновских лучей внутрь образца также приводит к размытию пика и сдвигу центра тяжести в направлении малых углов &. Конечная ширина аналитической щели и источника излучения приводит к симметричному размытию дифракционного пика. [2]
Из-за малой глубины проникновения рентгеновских лучей ( для Co-излучения максимально 0 016 мм, для Cr-излучения максимально 0 08 мм) можно измерить только двуосные напряженные состояния на поверхности. Чтобы избежать ошибок измеренных значений, которые могут быть обусловлены, например, предшествующими механическими обработками, перед началом съемки поверхность нужно слегка подтравить. Более глубоко лежащие слои, однако, могут стать доступными для измерений благодаря последовательному электролитическому стравливанию. [3]
Известно, что глубина проникновения рентгеновских лучей в кристалл тем больше, чем менее совершенным является его строение и чем меньшую роль в рассеянии лучей играет так называемая вторичная экстинкция, которая обусловлена дополнительным ослаблением интенсивности падающей на кристалл радиации благодаря ее отражению от вышележащих строго параллельных слоев атомов идеально совершенного кристалла. В использованном спектрографе клин непосредственно соприкасается с поверхностью кристалла. Поэтому роль входной щели прибора играет расстояние от поверхности кристалла до наиболее глубоко лежащего слоя, принимающего участие в отражении рентгеновских лучей. Это делает форму и, главное, ширину рефлекса на рефлексограмме очень чувствительными к степени совершенства различных участков отражающего кристалла. Систематически измеряя эти величины по мере перемещения клина вдоль поверхности кристалла, можно построить своеобразные топографические карты, характеризующие степень совершенства отдельных его участков. Так, было, например, обнаружено значительное расширение рефлексов, возникавших при отражении рентгеновских лучей от областей кристалла, расположенных между двумя блоками и образовавшихся в результате процесса иррационального двойникования. Это хорошо согласуется с представлениями Бриллиантова и Обреимова о том, что в пространственной решетке кристалла вдоль такой промежуточной полосы имеется набор всевозможных ориентации, промежуточных между ориентациями соседних блоков. [4]
 |
Сварка в ограниченном пространстве.| Токарные станки, отрезные станки, резьбонарезные. [5] |
Необходимо обеспечить надежное экранирование при электронно-лучевой сварке, чтобы исключить проникновение рентгеновских лучей за пределы камеры. Следует предусмотреть возможность блокировки аппарата, исключающей рентгеновское излучение, регулярно проверять оборудование на его утечку, начиная с монтажа. [6]
Рентгеновская дифракционная картина отражает состояние решетки в объеме образца, так как глубина проникновения рентгеновских лучей колеблется в зависимости от природы образца и излучения от сотых до десятых долей миллиметра, а разм-еры элементарной ячейки, как правило, порядка нескольких ангстрем или десятков ангстрем. Поэтому дифракционная картина поверхностного слоя практически полностью затемняется картиной от объема. В катализе, как известно, существенную роль играет как раз состояние поверхностного слоя катализаторов. Для изучения фазового состава поверхностного слоя катализаторов пользуются методом электронографии [13-14], так как глубина проникновения электронных лучей гораздо меньше рентгеновских и составляет величину порядка десятков и сотен ангстрем. [7]
 |
Эллипсоид деформации ( в скобках показано направление напряжений.| Графическое определение величины деформации. [8] |
При рентгенографическом определении макронапряжений глубина анализируемого слоя не превышает нескольких десятков микрометров ( глубины проникновения рентгеновских лучей), что существенно меньше толщины изделия. [9]
 |
Зависимость концентрации твердого. [10] |
Толщина слоя X, в котором определялась концентрация твердого раствора цинка в алюминии, принята равной эффективной глубине проникновения рентгеновских лучей, при этом использовалось правило аддитивности ослабления рентгеновских лучей компонентами сплава. [11]
 |
Графики изменения относительной интенсивности / у / 0 пучка. [12] |
Измеряя интенсивность пучка лучей Jx, можно построить кривую / ( х) ( Jx / Jo), представляющую собой относительное изменение интенсивности Jx в зависимости от глубины х проникновения рентгеновских лучей в поглощающее тело. [13]
 |
Расположение магнитных силовых линий на детали с дефектом. [14] |
Рентгеновские лучи проникают через тело, непроницаемое для видимого света, поэтому возможно обнаружить внутренний дефект, не разрушая металла. Глубина проникновения рентгеновских лучей в сталь составляет 100 мм. Исследование дефектов, лежащих на большой глубине, осуществляют с помощью у-лучей. [15]
Страницы: 1 2