Диэлектрическая проницаемость - образец - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Если бы у треугольника был Бог, Он был бы треугольным. Законы Мерфи (еще...)

Диэлектрическая проницаемость - образец

Cтраница 2


Наиболее целесообразно использовать F-метры для измерения диэлектрической проницаемости образца.  [16]

Наиболее целесообразно использовать / - метры для измерения диэлектрической проницаемости образца. Простейшим / - метром является Q-метр, в состав которого вводят эталонный генератор и блок смесителя частот.  [17]

18 Искажение поля на концах пластинчатого конденсатора.| Принципиальная схема конденсатора с защитным кольцом ( 6. [18]

Это краевое поле на концах конденсатора зависит от толщины и диэлектрической проницаемости образца. Вредное влияние краевого поля на емкость рабочего измерительного участка устраняется введением защитного кольца. При этом находящийся под напряжением электрод /, имеющий значительный потенциал относительно земли ( рис. 51 и 52), окружен защитным кольцом 3, связанным с узлом моста, имеющим потенциал, равный потенциалу измерительного электрода. Защитное кольцо устраняет влияние краевых эффектов, так что измерения фактически проводятся в идеальном однородном поле.  [19]

Из приведенных соотношений видно, что т зависит от электросопротивления, геометрических размеров и диэлектрической проницаемости образца.  [20]

Распределение напряженности электрического поля ( особенно на краях образца и поля рассеяния) является сложной функцией от толщины и диэлектрической проницаемости образца. Погрешности измерения, обусловленные этими факторами, могут быть исключены калибровкой измерительной ячейки пластинами с известной диэлектрической проницаемостью, определяемой по методу защитного кольца. Для этого хорошо подходят пластины из полистирола ( е - 2 45) и специального стекла Minosglas ( e 7), толщиной 1; 2; 3; 4; 5; 7 и 10 мм. Диэлектрическая проницаемость этих веществ для частот, по крайней мере, до 10 Мгц практически не зависит от частоты. С учетом измерений, выполненных для пустой ячейки ( воздушная точка, е 1 00), строится калибровочный график ( рис. 54), одним из параметров которого является толщина образца. Критерием правильности калибровки является пересечение всех калибровочных прямых для образцов с различной толщиной водной точке а, в которой устанавливается указатель / из плексигласа с делениями, нанесенными через каждую 1 / 10 мм толщины образца.  [21]

Если высокое давление при прессовании пластинки твердого вещества приводит к какой-то предпочтительной ориентации несферических частиц или анизотропных молекул, то диэлектрическая проницаемость образца может быть в различных направлениях различной. При этом измеренное ее значение может отличаться от ожидаемой средней величины и от значения для направления оси анизотропного кристалла. Хэмон и Микинс [40] нашли, что анизотропия прессованных дисков первичных и вторичных спиртов слишком велика, чтобы ее можно было объяснить ошибками экспериментальных измерений. Так, например, в случае прессованных дисков гексадецилового спирта, перекристаллизованного из бензола, потери при направлении поля, параллельном поверхности диска, примерно в пять раз больше, чем при перпендикулярном направлении поля, причем множитель 5 почти сохраняется при изменении частот от десятков герц до 100 кгц. В случае образцов, полученных замораживанием расплава и последующим прессованием в диски, этот множитель был равен примерно двум. Измерения проводились на маленьких брусках кубической формы, вырезанных из дисков. Если бруски были вырезаны из сформированных дисков н-гексадецилового спирта, н-додецилового спирта и 14-гептако-занола, то потери в направлении, перпендикулярном поверхности исходного диска, в каждом случае были примерно на 20 % больше. Высокая анизотропия перекристаллизованных веществ была объяснена ориентацией плоских кристалликов спиртов параллельно поверхностям прессованных дисков.  [22]

23 Расчетные значения начального напряжения разрядов в зависимости от воздушного зазора. [23]

В этом выражении d - величина воздушного промежутка ( рис. 1 - 23), d - толщина, а е - диэлектрическая проницаемость образца.  [24]

Комплексная ( или обобщенная) диэлектрическая проницаемость в этом случае слагается из двух компонент, а именно: е - действительной части диэлектрической проницаемости образца и е, которая представляет собой коэффициент диэлектрических потерь.  [25]

26 Принципиальные схемы технологии изготовления электретов. а - термоэлектретов, б - фотоэлектретов, в - радиоэлектретов, г - короноэлектретов. [26]

Величина напряженности электрического поля поляризации зависит от геометрических размеров образца и зазоров между образцом и электродами ( рис. 8.4 а), а также от диэлектрической проницаемости образца и зазора. Для увеличения электрического поля в зазорах помещают диэлектрические прокладки.  [27]

Далее необходимо использовать уравнения Максвелла, чтобы выразить поля излучения HI, 2 ( или поля реакции по терминологии Андерсона [18]) через намагниченности Мь М2, возбуждающие эти поля. Диэлектрическая проницаемость образца вызывает только некоторый сдвиг частоты, и ее можно не принимать во внимание.  [28]

Первая из них дает обычный сдвиг резонансной частоты и увеличение потерь в резонаторе. Так как частота а значительно отличается от резонансной частоты соо, эту часть можно учесть, во-первых, путем незначительного изменения величины QJ ( таким же образом можно учесть и частотные сдвиги, вызванные диэлектрической проницаемостью образца) и, во-вторых, путем изменения величины Qi - Будем считать, что скорректированная величина QI равна соь В левой части уравнения ( 11) останутся тогда лишь такие члены, которые стремились бы к нулю, если бы не было нарастания колебаний, связанного с Я.  [29]

Принцип действия прибора заключается в использовании Т - образного моста, в два плеча которого включено по резонатору, к которым подается генерируемая клистроном энергия сверхвысокой частоты. В исходном состоянии частоты рабочего и измерительного резонаторов равны, и индикатор показывает наименьшее значение напряжения. При введении в рабочий резонатор исследуемого образца частота меняется пропорционально диэлектрической проницаемости образца. Создается условие неравенства частот рабочего и измерительного резонаторов.  [30]



Страницы:      1    2    3