Профиль - поверхность
Cтраница 3
Контур профиля поверхности в виде линии пересечения световой плоскости с контролируемой поверхностью, искривленной микронеровностями ( рис. 3.18 а), рассматривается при значительном увеличении. Приборы, построенные на этом принципе, называется двойными микроскопами ( микроскопы МИС-системы акад. [31]
Схема профиля поверхности показана на фиг. [32]
Отклонение профиля поверхности детали от профиля шаблона не превышает 0 03 мм. [33]
Изучение профиля поверхности высокопрочных сплавов показало, что после обкатки роликами она становится более совершенной: надрезы становятся менее острыми, число их уменьшается. При этом возрастает долговечность ( число циклов до разрушения при переменных нагрузках) и усталостная прочность. Следует также иметь в виду сильное диспергирование структуры и увеличение плотности дефектов в поверхностном слое металла в результате поверхностной деформации. [34]
Создание высокоточных профилей поверхности изделий без механического воздействия являет собой уникальный пример реализации эффективности принципов синергетики, обеспечивающих создание самоорганизующихся высокоэкономических и экологически чистых технологий. [35]
Отклонение профиля поверхности обработанной детали от профиля шаблона не превышает 0 03 мм. [36]
Оценка профиля поверхности относительно средней линии истерически возникла в связи с появлением щупового прибора - профилометра Аббота. Отсчет мгновенных отклонений положения щупа в приборе производится от некоторой линии, в известной мере параллельной линии движения опорных колодок вдоль контролируемой поверхности и делящей профиль пополам. Однако в этой конструкции профилометра, как и в других последующих конструкциях, форма и положение средней линии определяются не только радиусом кривизны опорных колодок и их расположением, но и электромеханическими характеристиками прибора. При нахождении аналогичной средней линии на профилограмме, снятой с помощью оптических приборов, возникают дополнительные трудности. В первом случае отсчет перемещения иглы производится от некоторой системы неподвижных относительно прибора прямоугольных координат ( фиг. [37]
На практике профиль поверхности обычно исследуют при помощи щупа, приводимого в контакт с поверхностью. Вертикальные перемещения щупа преобразуются в изменения электрического напряжения, которые после усиления подаются на регистрирующее или вычислительное устройство. Основным недостатком такого типа устройств является необходимость механического контакта между щупом и поверхностью. Этот контакт может приводить к возникновению дефектов на исследуемой поверхности. Оптические же методы свободны от данного недостатка, так как оптический щуп не требует механического контакта, это просто микроскоп, наведенный на поверхность. [38]
 |
Прибор для измерения профиля поверхности. [39] |
Точность измерения профиля поверхности с помощью описанного прибора достаточна для практического использования. Примеры полученных профилей различных поверхностей будут описаны ниже. Оценка профиля поверхности зависит в основном от степени выявления его особенностей. Ниже приведены два метода обработки профилограмм, позволяющие более полно выявить особенности текстуры поверхности. [40]
Если изменение профиля поверхности носит нерегулярный характер, то наблюдается рассеянное отражение. При регулярном характере неровностей профиля, шаг которых соизмерим с длиной волны, происходит дифракция УЗ-волн. В обоих случаях снижается амплитуда сигнала, соответствующего геометрическому отражению лучей, что удобно использовать для измерения параметров шероховатости поверхности. [41]
 |
Влияние точности обработки.| Структура обозначения шероховатости поверхности.| Форма и размеры знаков шероховатости поверхностей. [42] |
Длина участка профиля поверхности, установленная для измерения ее шероховатости, называется базовой длиной. [43]
Последовательные рентгенограммы профиля поверхности, приведенные на фиг. Скорость выброшенных частиц относительно мала, но их масса во много раз больше, чем масса ударяющего тела ( см. фиг. [44]
Схема микрогеометрии профиля поверхности металла приведена на фиг. [45]
Страницы: 1 2 3 4