Измерительная процедура

Cтраница 1

Измерительная процедура всегда начинается с измерения периода. Это регламентируется подачей сигнала с микро - ЭВМ на управляющие входы обоих мультиплексоров, при наличии которого входы 1 и 2 временного селектора соединяются со входами 1 мультиплексора I н II соответственно. Поскольку оно в несколько раз больше емкости счетчика С 212 4096, то последний в процессе поступления импульсов многократно переполняется. Сигналы переполнения и остаточное двоичное число, фиксируемое счетчиком, поступают в микро - ЭВМ и оттуда - после вычисления значения частоты - на дисплей. Он отображает результат в виде десятичного числа с указанием единиц измерения частоты. [1]

Измерительная процедура сводится к следующему. На входы ЦАП последовательно подаются числа от 0 до 2т - 1, где т - количество разрядов ЦАП. В момент равенства напряжения реализации случайного процесса и компенсирующего напряжения число pi, имеющееся в этот момент на входе ЦАП, возводится в квадрат и результат фиксируется. После усреднения накопленного массива чисел p2i получается числовой эквивалент средней мощности случайного процесса. [2]

Зависимость интен - сивности непрерывного спектр3 от частоты. определение электронной температуры 1. [3]

Фактически измерительная процедура выполняется па следующей схеме. Сцинтилляционная вспышка в кристалле, являющаяся мерой интенсивности излучения плазмы, регистрируется электронным умножителем. [4]

Изменение измерительной процедуры может выполняться как посредством изменения характеристик конкретной последовательности выполняемых преобразований, так и посредством изменения состава составляющих измерительную процедуру преобразований При этом оптимизация может осуществляться для одной ситуации или для совокупности ситуаций. [5]

В прикладных измерительных процедурах участвуют не государственные эталоны единиц величин, а рабочие СИ, воспроизводящие единицу величины не идеальным образом, а сама измерительная процедура реализуется через взаимодействие трех основных материальных элементов: объекта измерения, СИ и среды. Среда, как правило, характеризуется совокупностью влияющих на результат измерения детерминированных и случайных величин. В связи с этим результат измерения всегда содержит случайную погрешность. [6]

Формально разделение измерительных процедур на прямые и косвенные определяется отсутствием или наличием основного функционального преобразования. Если измерительная процедура не содержит основного функционального преобразования, она представляет прямые измерения. Наличие основного функционального преобразования определяет косвенные измерения. [7]

Формализованное представление измерительной процедуры в виде последовательности элементарных преобразований входного воздействия обеспечивает возможность аналитического описания погрешностей. [8]

Следующая группа измерительных процедур составляется итеративными измерениями. Особенности аналитического описания компонентов и полной погрешности результатов итеративных измерений определяются их организацией. В случае, когда на 1 - й итерации используется только текущая измерительная информация, содержащаяся в поступающем на этой итерации входном воздействии, погрешность результата измерений полностью определяется данной итерацией. [9]

Данная группа измерительных процедур составляется добавлением к процедурам, рассмотренным в предыдущем параграфе, вспомогательных преобразований. [10]

МА совокупности измерительных процедур, когда формирование соотношений для погрешностей результатов измерений проводится последовательно на множестве упорядоченных в порядке возрастания сложности измерений. [11]

При выполнении измерительных процедур осветитель сочетают со светло-красным или оранжевым стеклом. [12]

Однократное воспроизведший измерительной процедуры позво-лчет установить одно возможное значение погрешности и каждой из определяемых компонент. [13]

Многообразие видов измерительных процедур п способов их аппаратурной реализации побуждает разделить математическое ( беспечение имитационного моделирования на две части - типовое к индивидуальное. Типовое программное обеспечение, имитационного моделирования составляется наиболее употребляемыми датчиками случайных чисел, программами воспроизведения основных г. идо в измерительных преобразований, проз р агамами воспроизведения искажающих воздейств. [14]

Зависимость погрешности измерения диэлектрической проницаемости от толщины проводника НПЛ.| Зависимость погрешности измерения диэлектрической проницаемости от отношения ех / е, при Hid 5. [15]

Страницы: 1 2 3 4