Cтраница 1
Схема ионизационного спектрометра Брегга. [1] |
Пучок монохроматических лучей, вырезаемый коллиматором, падает на исследуемый монокристалл, расположенный в центре вращающегося столика А. Вокруг той же оси вращается другой столик - В, на котором укреплена ионизационная камера. Кристалл устанавливается таким образом, чтобы угол между первичным пучком и какой-либо гранью кристалла равнялся углу между гранью и направлением на ионизационную камеру. После этого кристалл в камере приводится во вращение так, чтобы это соотношение все время сохранялось, для чего, очевидно, требуется вращать столик В с угловой скоростью в два раза большей скорости вращения столика А. [2]
К задаче 27.| К задаче 28. [3] |
На рис. 13.32 параллельным пучок монохроматических лучей входит в ящики слева. Изобразите схему того, что должно находиться в каждом ящике, чтобы получился показанный на рисунке результат. Одиночные и двойные стрелки на ЕЫХСДЯЩИХ лучах обозначают продолжения соответствующих падающих лучей. [4]
При прохождении некоторой пластинки интенсивность пучка монохроматических лучей уменьшается в 8 раз. Сколько слоев половинного ослабления для данных у-лучей составляет толщина пластинки. [5]
Пусть на точку М первой преломляющей грани призматического элемента падает пучок монохроматических лучей от шарового светящего тела с угловым размером 2 с. Ввиду того, что краевые лучи этого пучка упадут на точку М под разными углами ( а - с) и ( а сс), они по-разному будут преломлены первой и второй гранью элемента. [6]
Рентгенограмма AIN по методу вращающегося кристалла. [7] |
Схема установки показана на рис. ХП-27. Круглый пучок монохроматических лучей, пройдя сквозь отверстие в свинцовой диафрагме, попадает на столбик К, спрессованный из кристаллического порошка изучаемого вещества. Так как в последнем отдельные кристаллы ориентированы совершенно беспорядочно, среди них всегда имеются такие, для которых расположение плоскостей отражения отвечает условию Брзгга - Вульфа. В связи с этим отпадает необходимость вращать столбик, и на фотографической пленке Ф наряду с центральным пятном А непосредственно получается ряд полос ( рис. ХП-28), из положения которых можно вычислить характерные для данного кристаллического вещества константы. Будучи значительно проще метода вращающегося кристалла в отношении подготовки исходного материала и проведения самого опыта, порошковый метод характеризуется несколько меньшей точностью и большей сложностью расчета структур. [8]
Рентгенограмма A1N по методу вращающегося кристалла.| Схема порошкового 4 метода. [9] |
Схема установки показана на рис. XII-28. Круглый пучок монохроматических лучей, пройдя сквозь отверстие в свинцовой диафрагме, попадает на столбик К, спрессованный из кристаллического порошка изучаемого вещества. [10]
Это явление в общем аналогично дифракции световых лучей, пропускаемых через штриховую дифракционную решетку. Как известно, пучок монохроматических лучей, направленных на пластинку с системой равноотстоящих отверстий ( или штрихов), распространяется за пластинкой по ряду избранных ( дискретных) направлений. Происходит это вследствие наложения сферических волн, исходящих из каждого отверстия. В некотором произвольном направлении эти волны не совпадают по фазе и в совокупности взаимно гасят друг друга. Но если разность фаз лучей, исходящих из соседних отверстий, составит целое число периодов, то они не погасят, а взаимно усилят друг друга. Этому условию и удовлетворяют дифракционные лучи. [11]
В зависимости от задач рентгеноструктурного анализа применяют следующие методы исследования: метод Лауэ ( используется для определения симметрии кристаллов, для его проведения требуется чистый монокристалл вещества); метод вращения монокристалла вокруг оси; метод порошка - метод Дебая - основной метод рентгеноструктурного анализа поликристаллических веществ, в том числе и гетерогенных катализаторов. Суищость метода состоит в следующем. Узкий круглый пучок монохроматических лучей, пройдя через коллиматор ( рис. 18), попадает на столбик образца катализатора. [12]
В зависимости от задач рентгеноструктурного анализа применяют следующие методы исследования: метод Лауэ ( исп ользуется для определения симметрии кристаллов, для его проведения требуется чистый монокристалл вещества); метод вращения монокристалла вокруг оси; метод порошка - метод Дебая - основной метод рентгеноотруктурно-го анализа поликристаллических веществ, в том числе и гетерогенных катализаторов. Сущность метода состоит в следующем. Узкий круглый пучок монохроматических лучей, пройдя через коллиматор ( рис. 18), попадает на столбик образца катализатора. [13]
Полученные рентгенограммы могут также послужить основой для количественной оценки величины углов поворота блоков в изогнутом кристалле. Пусть на такие расположенные под углом друг к другу плоскости падает пучок монохроматических лучей. В точке Р ( в фокусе) пересекутся оба луча, отраженные каждой из этих плоскостей. Расположим далее фотопластинку на расстоянии г за фокусом и подсчитаем расстояние / между двумя штрихами на рефлексограм-ме, возникающими за счет отражения рентгеновских лучей от рассматриваемых блоков кристалла. [14]