Cтраница 1
Установка для отверждения покрытий ускоренными электронами. [1] |
Пучок ускоренных электронов получают в специальных установках - ускорителях электронов прямого действия с энергией 0 02 - 0 11 пДж, называемых также электронными пушками. [2]
Пучок ускоренных электронов первоначально проходит через область переменного ноля, в к-рой происходит модуляция скорости электронов. Затем, после значительного ( но сравнению с Т) пролетного времени электроны, из-за разницы в скоростях, собираются в сгустки и возбуждают в резонаторе колебания СВЧ. Наиболее распространены однорезонаториые отражатель-н ы е клистроны как маломощные гетеродины и генераторы во всем диапазоне СВЧ. [3]
Пучок ускоренных электронов, направляемый на исследуемое вещество, рассеивается электрическим полем ядер и электронных оболочек атомов. Интенсивность рассеяния электронов пропорциональна электростатическому потенциалу атомов. [4]
Электронный луч-направленный пучок ускоренных электронов, применяемый для просвечивания образцов или возбуждения в них вторичных излучений ( напр. Ускоряющее напряжение - напряжение между электродами электронной пушки, определяющее кинетич. С вет - лопольное изображение - увелич. Темнополь-ное изображение формируется рассеянными электронами ( основной пучок электронов при этом отклоняют или экранируют) и используется при изучении сильнорассеиваю-пдах объектов ( напр. [6]
Изменение мапштноги ноли в бсугитронг1 н. я подмагничииани я ( а и с подмнгни-чицш - ш м ( п. В. [7] |
Используется либо непосредственно пучок ускоренных электронов, либо вызываемое им при лона-дани и на мишень тормозное излучение. [8]
При попадании на мишень пучка ускоренных электронов основная их масса замедляется за счет многократных взаимодействий с электронами мишени. Энергия, теряемая электронами, превращается в энергию рентгеновского излучения с непрерывным спектром, которое называется тормозным излучением. Непрерывный спектр рентгеновского излучения имеет четкую нижнюю границу длин волн Ямин ( или максимальную частоту), соответствующую максимальной энергии электронов. [9]
В конце каждого цикла ускорении пучок ускоренных электронов можно либо вывести через окно за пределы вакуумной камеры, либо направить па металлич. При торможении электронов в мишени возникает рентгеновское излучение, используемое для дефектоскопии металлич. Для целей дефектоскопии электроны ускоряются до энергий 20 - 30 Мае, поэтому проникающая способность рентгеновского излучения В. Техника бетатронной дефектоскопии аналогична технике рентгенодефек-шоскопии И гамма-дефектоскопии, для сокращения времени экспозиции и повышения чувствительности используют флуоресцирующие усиливающие экраны и свинцовую фольгу толщиной 2 - 3 мм. Относит, чувствительность при просвечивании изделий толщиной 200 - 450 мм находится в пределах 2 - 1 5 % от толщины изделия, вследствие чего можно выявить дефекты с лучевыми размерами в 4 - 7 мм. Известны конструкции приборов - стереобетатро-нов, дающих два пучка излучения, направленных под углом друг к другу. Просвечивание прибором такого типа позволяет но только выявлять дефекты, но и определять глубину их залегания в изделии. [10]
УФ-излучение гораздо менее интенсивно, чем пучок ускоренных электронов. Поэтому для получения свободных радикалов, инициирующих фотохимическую полимеризацию, необходимо добавлять фотосенсибилизаторы, которые под действием УФ-излучения легко распадаются на свободные радикалы. [11]
В электронографах и электронных микроскопах формируется узкий светосильный пучок ускоренных электронов. Он направляется на объект и рассеивается им, дифракц. [12]
Рассмотрим процессы, возникающие при падении пучка ускоренных электронов на поверхность металла. Проходящие через вещество электроны могут терять свою энергию в результате возбуждения и ионизации атомов вещества, передачи энергии движущихся электронов непосредственно атомам, путем резонансного поглощения, при возникновении рентгеновского излучения и других процессов. [13]
В электронном микроскопе вместо светового излучения используется пучок ускоренных электронов. Изображение изучаемого объекта наблюдается на флуоресцентном экране или фиксируется фотографическим способом. Это позволяет изучать разнообразные надмолекулярные образования у синтетических полимеров, фибриллярную структуру цел-люлозосодержаших клеточных стенок древесины и других растительных тканей, ультраструктуру волокнистых полуфабрикатов целлюлозно-бумажного производства. [14]
Нестабильности этих устройств будут вызывать нестабильность энергии пучка ускоренных электронов. Установление точных количественных связей между всеми нестабильностями - задача достаточно сложная. Однако имеются исследования по вопросам стабилизации в питающих блоках аналогичных устройств, например, в электронной микроскопии. Исходя из имеющихся данных, можно сказать, что стабильности питающих постоянных напряжений электронной пушки и стабильности фокусирующих элементов могут быть сделаны такими, какие требуются для моно-энергетнческих ускорителен. [15]