Электронный пучок

Cтраница 3

Схема работы ультразвукового микроскопа С. Я. Соколова. [31]

Электронный пучок, попадая на пластинку, выбивает из нее так называемые вторичные электроны; эти последние улавливаются специальным электродом 6, имеющимся в трубке. Оказывается, что число вторичных электронов, вылетающих из пьезопластинки при попадании на нее в какую-либо точку электронного пучка, зависит от заряда пластинки в этой точке. При движении электронного пучка на поверхности приемной пьезопластинки, отдельные точки которой имеют различные величины пьезозарядов, ток вторичных электронов, идущий через электрод 6, будет претерпевать изменения. Эти изменения усиливаются при помощи усилителя 7 и подаются на сетку ( или модулятор) 8 трубки 9 электронного осциллографа. Интенсивность свечения экрана этой трубки меняется в соответствии с изменением количества вторичных электронов. [32]

Электронный пучок фокусируется магнитной линзой, диаметр фокусного пятна регулируется от 5 до 12 мм. [33]

Электронный пучок в РЭМ обычно состоит из электронов с почти параллельной траекторией и расходимостью до 10 - 2 рад ( 0 5) и фокусируется в кружок диаметром от 0 5 нм до 1 мкм. Поскольку этот пучок сканирует по поверхности, наиболее высокое разрешение достигается при минимальном диаметре пучка. В идеальном случае последний должен соответствовать диаметру считывания информации, что не всегда выдерживается из-за рассеивания электронов. [34]

Электронный пучок выходит из электронной пушки под действием разности потенциалов V 200 В. [35]

Электронный пучок, попадая на один из контактов, замыкает цепь соответствующего управляемого объекта и приводит его в действие. [36]

Электронный пучок программно сканирует ( поперек) стык с пределами отклонений 5 мм. В процессе сканирования анализируется сигнал датчика стыка ( КВЭ) и уровень второй гармоники. Положение стыка фиксируется в тот момент, когда показание датчика стыка равно нулю, а уровень второй гармоники максимален. При сканировании в обратном направлении при достижении фиксированного уровня контур ОС следящей системы замыкается, и проводится захват стыка. [37]

Электронный пучок широко используется для наплавки модифицирующих покрытий. В этом случае на поверхность детали предварительно помещаются модифицирующие порошки. Затем происходит расплавление их и материала основы электронным пучком. Электронно-лучевая наплавка используется для создания износе -, коррозионно -, термо - и химически стойких покрытий на сталях и сплавах на основе меди, алюминия, титана. Оптимальной по физико-химическим свойствам является толщина проплавленного слоя l - s - 2 мм. [38]

Электронный пучок получить намного легче, чем нейтронный. Для этого часто используется явление термоэлектронной эмиссии ( хотя есть и другие способы), когда разогретая до высокой температуры вольфрамовая нить испускает электроны со своей поверхности. В отличие от нейтронов и рентгеновских лучей электроны имеют заряд и поэтому намного сильнее взаимодействуют с веществом. В частности, они обладают низкой проникающей способностью, и эксперименты приходится проводить в вакууме. Вакуумиро-ваиие всегда существенно осложняет работы и является ( при прочих равных условиях) нежелательной операцией. [39]

Электронный пучок в приборах типа М имеет конечную толщину А ( см. Vq. Сначала предположим, что все электроны по сечению пучка имеют одинаковую начальную скорость. [40]

Электронный пучок вводится вдоль дна трубки и проходит над U-образными горизонтальными отклоняющими пластинами. Когда напряжение на какой-либо отклоняющей пластине понижается, луч отклоняется вверх. Точка, в которой это происходит, определяется положением электрода с пониженным напряжением. Аналогичный принцип применяется и для вертикального отклонения, при этом луч направляется в требуемую точку на экране с люми-нофорным покрытием. [41]

Электронный пучок эмиттируется источником с V-образным вольфрамовым катодом. В электронном прожекторе имеются три катода, размещенные на турели. Это облегчает замену перегоревшего катода без нарушения вакуума. [42]

Электронный пучок может быть сосредоточен на ничтожно малой площади поверхности, что создает возможность его использования для сварки микроизделий радиоэлектроники. [43]

Электронный пучок, сфокусированный прожектором, направлен в центр экрана трубки. Для перемещения светового пятна по экрану трубки имеются отклоняющие системы, изменяющие направление сфокусированного пучка за счет воздействия на него поперечного электрического или магнитного поля. [44]

Ионный источник с электростатической фокусировкой. [45]

Страницы: 1 2 3 4 5