Cтраница 5
Прямая ММ отвечает направлению первичного пучка, прямая ST или S T - узловому ряду; точка О - началу координат обратной решетки, внутренняя окружность - экваториальному сечению сферы отражения. Величина смещения отсчитывается по шкале, нанесенной на полосках. [61]
Полу бесконечная ( а и барьерная ( б геометрии. [62] |
В первом случае электроны первичного пучка, испытав многократные соударения, либо остаются в веществе, или выходят через его переднюю поверхность. При барьерной геометрии после многократных соударений электроны могут покинуть вещество не только через его переднюю, но и через заднюю поверхность. [63]
Таким образом, интенсивность первичного пучка, даже если она меняется во времени, для обоих кристаллов остается одинаковой. Однородность рентгеновской пленки обеспечивает выполнение остальных условий. [64]
Общий вид камеры КРОС. [65] |
Точкой отсчета является след первичного пучка лучей. [66]
На рис. 135, а первичный пучок направлен перпендикулярно оси вращения, а счетчик установлен наклонно; на рис. 135, б наклонно установлен коллиматор первичного пучка, причем угол наклона подобран так, чтобы лучи некоторой п-ной слоевой линии оказались развернутыми в плоскости, перпендикулярной оси вращения. На рис. 135 0 и коллиматор, и счетчик выведены из экваториальной плоскости навстречу друг другу. Углы наклона их одинаковы я подобраны так, чтобы лучи п-ной слоевой линии попадали в счетчик при его вращении вокруг столика. [67]
Для простоты предположим, что первичный пучок падает на первый диффузор Дф1 нормально. [68]
Схема получения дебаеграммы. [69] |
Так как осью кону-са является первичный пучок лучей, на плоской пленке, перпендикулярной пучку, возникает изображение в виде концентрических колец, диаметр которых определяется углом между дифрагированными и исходными лучами. [70]
Зону 2 составляют неупругоотраженные электроны первичного пучка, а также электроны, генерированные в результате оже-перехо-дов. Точное энергетическое положение производной определяется всецело природой элементов, составляющих поверхность. [71]
В кристаллических веществах ослабление интенсивности первичного пучка происходит также за счет отражений от кристаллических плоскостей. Например, в мозаичном кристалле наружные блоки экранируют внутренние блоки, находящиеся в параллельном положении. Поэтому интенсивность первичного пучка, доходящего до какого-либо блока, находящегося в отражающем положении, ослаблена и за счет обычного поглощения, и за счет интерференционного поглощения. Последнее обусловлено уменьшением интенсивности при отражении от параллельно расположенных выше лежащих блоков. Излучение, отраженное от какого-либо блока, при выходе из мозаичного кристалла также испытывает интерференционное ослабление при отражении от параллельно расположенных блоков. По этим причинам доля, вносимая в интегральное отражение отдельными блоками, уменьшается. Такое дополнительное ослабление называется вторичной экстипкцией. [72]
Сферическая проекция нормалей к плоскостям ( hkl при наличии аксиальной текстуры. Круг среза показан для съемки на отражение. [73] |
При съемке на отражение направление первичного пучка практически всегда перпендикулярно нормали к плоскости образца, обычно совпадющей с направлением оси текстуры. [74]