Cтраница 3
В отличие от просвечивающих, в осветительной системе растровых ( сканирующих) электронных микроскопов формируется узкий сходящийся пучок электронов, диаметр поперечного сечения к-рого в точке падения на исследуемый препарат составляет несколько десятков А. С помощью специальных отклоняющих систем пучок можно заставить сканировать по поверхности образца подобно тому, как это осуществляется в телевизионной трубке. [31]
Если отражение пучка не устранено, следует пользоваться поправочной формулой (3.76), качественно справедливой также и для сходящегося пучка. [32]
Очевидно, чем больше по абсолютной величине начальный ( отрицательный) угол наклона к оси крайней траектории сходящегося пучка, тем меньше радиус пучка в плоскости кроссовера. [33]
Фокусировкой луча называется сведение пучка электронов, излучаемых катодом, с помощью системы электронных ( или магнитных) линз в сходящийся пучок, имеющий наименьшее возможное сечение в плоскости экрана. С точки зрения электронной оптпки движение электронов в неоднородных электрических и магнитных полях аналогично распространению света в неоднородных оптических средах. [34]
![]() |
Эллипсоидный отражатель. [35] |
Сущность действия приборов проекторного класса заключается в том, что их оптическое устройство захватывает часть светового потока источника и после отражения или преломления направляет его в виде сходящегося пучка на некоторый участок оптической оси. Например, если поместить источник света в первом фокусе Oi эллипсоидного зеркального отражателя ( рис. 1.3, а), то во втором фокусе 02 будет образовано действительное увеличенное изображение источника, и весь отраженный поток будет сконцентрирован в объеме, занимаемом этим изображением. Мерой концентрации светового потока в этом случае является величина освещенности площадки, размещенной внутри изображения источника света перпендикулярно оптической оси. [36]
Вт, или дуговая лампа) с рефлектором Р, источник света помещен в фокусе рефлектора; конденсор К - короткофокусная система из двух линз, собирающая поток света в сходящийся пучок, который освещает прозрачный диапозитив Д, помещенный в рамку; объектив О, расположенный в фокусе конденсора так, чтобы в нем сходились световые лучи от конденсора, прошедшие через диапозитив. Положение объектива аппарата регулируется специальным механизм мои. [37]
Что же касается стандартного утверждения типа линза преобразует плоскую волну в сферическую, сходящуюся в фокусе, то оно верно лишь как некоторое приближение, в котором малым параметром служит телесный угол О, охватывающий сходящийся пучок света. [38]
Формулы и рассуждения данного и следующего параграфов не относятся к случаю, когда на линзу падает сходящийся световой пучок, но могут быть применимы и к этому случаю, если считать источник света мнимым источником, расположенным в точке пересечения лучей сходящегося пучка или их продолжений. [39]
![]() |
Метод создания плоского луча. [40] |
Центром схождения лучей является фокус оптического устройства. Сходящийся пучок может также быть получен с помощью выпуклой линзы и расходящегося тучка, если расстояние источника от линзы больше фокусного расстояния. Этот процесс может быть повторен в том смысле, что другая линза воспринимает изображение, созданное первой линзой, и проектирует его на второй экран. [41]
Второй анод 4 служит для ускорения электронного потока. Сходящийся пучок электронов со скоростью, определяемой разностью потенциалов между катодом и вторым анодом, входит затем в О б-ласть между двумя группами отклоняющих пластин, где на него действуют отклоняющие электростатические поля. [42]
![]() |
Схемы фокусировки спектральных линий по методу Иоганна ( кристалл 4 в положении а и по методу Иоганссона ( кристалл 4 в положении б. [43] |
Во всех предыдущих методах кристалл работает на отражение. Сходящийся пучок рентгеновских лучей с длиной волны Ль для которых углы падения и отражения по закону Вульфа - Брегга равны фь падает на изогнутый по радиусу R кристалл-анализатор с его выпуклой стороны и отражается от атомных плоскостей, расположенных веерообразно под прямым углом к поверхности кристалла. [44]
Применение сходящегося пучка является одним из эффективных способов уменьшения размера области дифракции. Кроме того, способ электронной дифракции в сходящемся пучке оказывается наиболее подходящим для измерений интенсивности рефлексов. Это важно, в частности, для измерения критического напряжения в высоковольтной электронной микроскопии. [45]