Узкий пучок - рентгеновские лучей
Cтраница 1
 |
Метод Лауэ для дифракции рентгеновских лучей в кристаллах.| Интерференция рентгеновских лучей при отражении от плоскостей кристаллической решетки. [1] |
Узкий пучок рентгеновских лучей, падающий на кристалл, проходит через него почти полностью. Каждое пятно соответствует плоскости атомной решетки, более или менее плотно заполненной атомами. [2]
Узкий пучок рентгеновских лучей, вырезанный диафрагмами DI и DZl падает на кристалл К. [3]
Пусть узкий пучок рентгеновских лучей падает на эти плоскости под углом & ( фиг. Пучок будет рассеян во всех направлениях атомами, расположенными в различных атомных плоскостях. Рассмотрим два луча, I и II, которые рассеиваются двумя частицами А и В, находящимися в смежных плоскостях. [4]
И вот узкий пучок рентгеновских лучей был направлен на кристалл, за которым была расположена фотопластинка. [5]
Лауэ, полученная при пропускании узкого пучка рентгеновских лучей через небольшой кристалл каменной соли перпендикулярно ее плоскостям спайности. Эти плоскости спайности параллельны поверхностям, вдоль которых кристалл может быть легко расщеплен или сломан. [6]
Через кристалл, около которого были помещены фотографические пластинки, пропускали узкий пучок рентгеновских лучей, испускаемых рентгеновской трубкой. Было обнаружено, что на фотографической пластинке, расположенной за кристаллом, возникает черное пятно в том месте, куда падает прямой пучок рентгеновских лучей, а кроме этого, имеется целый ряд других пятен, указывающих на преимущественное рассеяние пучка рентгеновских лучей в определенных направлениях, соответствующих максимумам дифракции. Этот опыт сразу показал, что рентгеновские лучи аналогичны свету; они имеют волновую природу, а длина волны рентгеновских лучей, образующихся в той рентгеновской трубке, которую применяли в данном опыте, была порядка 1 А. [7]
Аппарат АРС-4 - портативный, предназначен для проведения исследований, требующих очень узкий пучок рентгеновских лучей. Анод трубки находится под высоким напряжением, катод заземляется. Нить накала от катодной части корпуса изолирована и соединена с ней с помощью сопротивления, на котором создается напряжение ( смещения) при прохождении анодного тока. [8]
Около сорока лет назад было обнаружено, что направленный на какой-либо кристалл узкий пучок рентгеновских лучей делится на два пучка, один из которых проходит сквозь кристалл, не изменяя своего направления, другой же несколько отклоняется от первого. Оба эти луча могут быть фиксированы на фотопленке. [9]
 |
Схема дифракционной микроскопии. [10] |
Использовался также несколько видоизмененный метод Барретта [35], по которому съемка микрорентгенограмм проводится на расстоянии 0 6 мм, а узкий пучок рентгеновских лучей пропускают под углом несколько градусов в просвет между пластинкой и образцом. [11]
Позднее ( 1924) Комптон и Хагенау повторили этот опыт, пользуясь усовершенствованной методикой. Узкий пучок рентгеновских лучей от вольфрамового антикатода рассеивался первым рассеивателем Sj и попадал на второй рассеиватель 52, помещенный таким образом, что падающий на него после рассеяния пучок составлял угол в 90 с направлением первоначального пучка. В качестве рассеива-телей использовались куски бумаги, угля, алюминия и серы. Было обнаружено, что интенсивность в направлении 52 - х имеет максимум, в то время как в направлении 52 - z интенсивность в пределах ошибок измерения практически равнялась нулю. [12]
В этом опыте используется непрерывный спектр, полученный с тем или иным антикатодом. Узкий пучок рентгеновских лучей, выделенный с помощью щелей 5, и S2, падает на поглощающее вещество А, содержащее исследуемый элемент. [13]
 |
Фотография, изображающая картину дифракции рентгеновских лучей в кристалле цинковой обманки. [14] |
Опыт, выполненный Лауэ, был осуществлен следующим образом. Узкий пучок рентгеновских лучей, выделенный при помощи свинцовых диафрагм Dlt Z2 ( рис. 296), падал на кристалл / С. [15]
Страницы: 1 2