Дифрагированный пучок

Cтраница 2

Вместе с тем требуемое им для получения четких фотографий дифрагированного пучка время экспозиции несравненно меньше. Поэтому подавляющее большинство молекулярных структур установлено именно электронографическим методом. [16]

ОР представляет собой радиусный вектор Ь обратной решетки; направление дифрагированного пучка определяется вектором АР. [17]

В такой схеме угол 8 фц - ф между направлениями осей падающего пучка и дифрагированного пучка, направляемого в центр спектрограммы, остается постоянным, но направление оси пучка SG изменяется, что при изменении рабочей области длин волн требует перемещения источника, а при больших смещениях решетки - и поворота щели вокруг вертикальной оси. [18]

Размеры фокусирующего зеркала / / ( рис. 58, б) соответствуют ширине а дифрагированного пучка лучей только одной длины волны, и при данном положении решетки пучки лучей других длин волн виньетируются. [19]

Опыты проведены на установке КРМ-1 с использованием коллиматора Кратки, при размещении на пути дифрагированного пучка добавочной диафрагмы, препятствующей попаданию на счетчик паразитного рассеяния. [20]

Настоящее исследование проводилось на установке КРМ-1 с использованием коллиматора Кратки и установкой на пути дифрагированного пучка добавочной диафрагмы, препятствующей попаданию на счетчик паразитного рассеяния. [21]

В работах Кенкре [211, 215] и Вонга и Кенкре [406] получено общее выражение временнбй зависимости интенсивности дифрагированного пучка, в котором учитываются эффекты экситонной когерентности ( см. разд. [22]

По причинам, которые не так хорошо понятны, как в двухвол-новом случае, относительно простое изменение интенсивности дифрагированного пучка с толщиной может произойти в случае, когда падающий пучок почти параллелен главной оси кристалла. Вычисления Фишера [138] для пучка, параллельного оси [001] кристалла CuAu, воспроизведенные на фиг. Все интенсивности дифракционных пучков осциллируют в фазе друг с другом, но противоположны по фазе падающему пучку. [23]

Схемы методов рентгеновской дифракционной топографии. [24]

Берга-Баррета; 6 - метод аномального прохож дения ( метод Бормана); Я - падающий пучок; Д - дифрагированный пучок; Ф - фотопластинка; - проходящий пучок; Р - рентгеновский источник; О - ограничивающие щели. [25]

Атомные функции рассеяния определяют толщину слоя кристалла, в пределах которого происходит извлечение ( экстинкция) излучения из первичного в дифрагированный пучок. Характерные значения глубины проникновения волнового поля в кристалл в диапазоне длин волн 1 - 10 нм-от десятков до единиц микрон. Исключение составляет область углов дифракции вблизи & 45е, где экстинкция для компоненты излучения, поляризованной в плоскости, дифракции, мала, и оно поглощается в кристалле практически без отражения. В таком угловом диапазоне дифракции можно получить отраженный пучок, практически нацело поляризованный в направлении, перпендикулярном к плоскости дифракции и / или измерить поляризацию падающего излучения. [26]

В некоторых случаях для выбранных 0, X и d существует порядок интерференции, скажем mL, в котором направление дифрагированного пучка практически совпадает с направлением падающего. Данный режим называют условием Литтроу, а про решетку говорят, что она работает в схеме Литтроу. [27]

О, проходит также через точку решетки Р, то вектор ОР представляет собой радиусный вектор h обратной решетки; направление дифрагированного пучка определяется вектором АР. [28]

Помимо этих случайных ошибок интенсивности рентгеновских лучей включают также систематические ошибки, обусловленные такими факторами, как, например, поглощение дифрагированного пучка при прохождении через кристалл. Некоторые из таких систематических ошибок можно исключить тщательным подбором кристалла или введением поправок в последующие вычисления, тем не менее часто невозможно выбрать идеальный кристалл, а необходимые поправки не редко опускают или вводят недостаточно строго. Поэтому в наблюдаемые интенсивности всегда вкрадываются дополнительные неточности, вызванные этими систематическими ошибками. Такое положение нельзя считать удовлетворительным и исправить его, конечно, нужно, но пока нам остается только примириться с этими ограничениями и понять, что рентгеновская дифракция дает менее точные значения молекулярных параметров, чем большинство других экспериментальных методов. [29]

У - углы, образуемые нормалью к решетке с проекциями на главное сечение лучей падающего и дифрагированного пучков; у - угол лучей дифрагированного пучка с главным сечением. [30]

Страницы: 1 2 3 4 5