Радиус - кривизна - поверхность - линза
Cтраница 1
Радиусы кривизны поверхностей линзы равны R 10 см. Какое линейное увеличение дает такая линза, если ею пользоваться как лупой. [1]
Радиусы кривизны R поверхностей линзы одинаковы и равны 12 см. Определить увеличение лупы. [2]
Обозначим: R - радиус кривизны поверхностей линзы, п - показатель преломления стекла. [3]
Измерив радиусы колец Ньютона и зная радиус кривизны поверхности линзы, можно определить длину световой волны. [4]
С изменением температуры происходят изменения: показателей преломления стекол, радиусов кривизны поверхностей линз, толщин линз и воздушного промежутка между линзами из-за теплового расширения материала промежуточного кольца ( рис. 41, гл. [5]
Из стекла требуется изготовить двояковыпуклую линзу с фокусным расстоянием 10 см. Каковы должны быть радиусы кривизны поверхностей линзы, если известно, что один из них в 1 5 раза больше другого. [6]
Чтобы микроскоп давал большое увеличение, диаметр его объектива ( апертура) должен быть очень мал, чтобы радиус кривизны поверхности линзы можно было сделать малым. [7]
На втором этапе расчета исходя из требований, предъявляемых к разрешающей способности прибора, выбираются материалы линз объективов и рассчитываются их конструктивные элементы ( радиусы кривизны поверхностей линз и зеркал, толщины линз и воздушные промежутки) таким образом, чтобы аберрации объективов не превышали заданных значений. [8]
Одна сторона двояковогнутой линзы посеребрена. Радиус кривизны поверхностей линзы 20 см. На расстоянии 50 см от линзы находится предмет высотой 5 см. Определить высоту изображения, даваемого оптической системой. [9]
 |
Менисковые системы Максутова. [10] |
Ниже рассматриваются основные типы зеркально-линзовых объективов с одним и двумя отражениями. Радиусы кривизны поверхностей линзы гг и г 2 выбираются из условия, чтобы при заданной ее толщине dx компенсировалась сферическая аберрация зеркала, а линза не вносила хроматизма положения. [11]
Для уменьшения фокусного расстояния необходимо использовать для линзы материал с большим показателем преломления и уменьшать радиус кривизны поверхностей линзы. [12]
Простейшими примерами применения интерференционных методов для технических целей является определение радиусов кривизны линз и испытание качества плоскопараллельных пластинок. Обычно радиусы кривизны линз определяются с помощью сферометра. При этом требуется измерить радиус сферического сегмента линзы и его стрелку. Эта точность вполне удовлетворяет требованиям, если радиусы кривизны поверхностей линз достаточно малы, что обусловливает большую стрелку сегмента. Однако существует ряд оптических приборов, в которых линзы имеют большие радиусы кривизны и соответственно малую стрелку сегмента, охватываемого стойками сферометра. Относительная точность измерений при этом сильно падает и становится неудовлетворительной. [13]
При изготовлении линз способом грубого шлифования определяется методом крепления заготовок на приспособлении; при эластичном креплении обрабатывают по одной заготовке. Основным видом оборудования для данного вида работ являются сферошли-фовальные станки, работающие алмазным инструментом. При жестком креплении заготовок их обрабатывают блоками на сферо-шлифовальных станках. Радиус кривизны поверхности обрабатываемой линзы ( или блока) зависит от диаметра Dp, K режущей кромки инструмента, угла ф наклона оси инструмента относительно оси заготовки ( фиг. [14]
Страницы: 1