Cтраница 2
Формула ( 12 - 12) дает величину излучения газа для направленного излучения при переменных по длине луча температурах и парциальном давлении. Формула ( 12 - 12) по существу одинакова с полученной ранее формулой ( 2 - 144) и отличается от нее тем, что вместо действительной длины пути луча в ней стоит приведенная длина упр. [16]
Формула ( 12 - 26) дает величину излучения плоского слоя при переменной по его толщине температуре. В формулу входит производная степени черноты слоя по приведенной его толщине при постоянной температуре слоя. [17]
Однако на практике мешает фон прибора, зависящий от величины излучения, попадающего на фотосопротивление. [19]
Излучение тепла имеет также место и у жидкостей, причем величина излучения у них приближается к таковой для твердых тел. Однако практически излучение жидкостей по большей части не играет никакой роли в процессах теплообмена, так как теплопередача в жидкостях велика уже сама по себе и, таким образом, возникающая в них разность температур весьма незначительна, вследствие чего доля теплового излучения в общей сумме теплового потока ничтожно мала. [20]
Вследствие нелинейности спектральные характеристики некоторых видов, камер зависят от величины излучения, используемого при их измерении. [21]
На практике изменение св-в материала сопоставляется с величиной, характеризующей величину воздействующего излучения, напр, с потоком ( флюенсом) нейтронов или поглощенной дозой ИИ. Количеств, характеристикой часто служит также макс, ( предельное) значение поглощенной дозы и ( или) мощности поглощенной дозы излучения, при к-ром материал становится непригодным для конкретных условий применения или до заданной степени меняет значение к. [22]
Формула ( 5 - 17) позволяет графическим интегрированием определять величину излучения слоя с произвольным распределением температур по толщине слоя. [23]
Среднее расстояние от центра до центра вдоль трека ионизирующей частицы зависит от величины ЛПЭ излучения. [24]
Проведя такие преобразования с характеристиками объемного излучения, можно получить систему аналогов величин объемного и поверхностного излучения, которая и дается в приведенной таблице. [25]
![]() |
Установка для определения толщины тонких слоев по методу просвечивания при помощи ( 5-нз-лучения.| Градуировочная кривая для измерения толщин тонкой. [26] |
Сцинтилляционный счетчик переключен на интегрирующую схему, и отклонения на шкале гальванометра указывают на величину излучения, проникающего через слой S, являясь, таким образом, функцией толщины слоя. При использовании гальванометра с несколькими областями измерения на шкале вначале производится установка на шкалу с наименьшей чувствительностью; переключение на следующую шкалу производится в том случае, если данная чувствительность не является достаточной. [27]
Первый процесс характеризуется коэффициентом рассеяния k - p - отношением рассеянного частицей излучения к величине излучения, падающего на частицу. Поглощение частицы характеризуется, коэффициентом поглощения kn - отношением количества поглощенной частицей энергии к интенсивности упавшего излучения. [28]
Для измерения температуры выше 800 С применяют пирометры, принцип действия которых основан на определении величины излучения, испускаемого нагретыми телами. [29]
При температурах в интервале до 2 760 С, которые встречаются в нормальных промышленных условиях, величина излучения связана с изменениями энергии вращения и вибрации молекул. [30]