Величина - искажение
Cтраница 3
 |
Характер искажений кривой распределения при совпадениях. [31] |
Очевидно, что величина искажений при этом изменится. [32]
Таким образом, величина искажений кривой распределения от совпадений определяется тремя независимыми факторами: 1) средним числом частиц, приходящимся на величину эффективного объема отверстия; 2) распределением взаимодействий частиц; 3) дисперсией исследуемого распределения. [33]
 |
Сигналы UK Y, UB Y, Uf, UQ, рассчитанные для передачи цветовых границ. черный - красный и черный - зеленый. [34] |
С точки зрения величины искажений [ цветовоспроизведения оба случая передачи цветовой информации можно считать практически равноценными. [35]
Факторы, определяющие величину искажений. [36]
Формула (12.14) показывает величину искажений по амплитуде ( или динамического увеличения), создаваемых прибором. Семейство кривых, построенных по этой формуле при различных значениях успокоения J3 ( рис. 112), носит название амплитудных характеристик. [37]
 |
Фазовые характеристики. [38] |
Формула (12.15) характеризует величину искажения колебания объекта измерительным прибором по фазе. При значениях со0 / со1 сдвиг фаз положителен, при оо / ш 1 - отрицателен. [39]
Наилучшее представление о величине искажений, обусловленных данным характером фазовой характеристики, мы получим, оценивая их разностью между временем пробега наиболее энергетически важных волновых групп сигнала и временем пробега, хотя и менее важных в энергетическом отношении, но распространяющихся с наибольшей скоростью составляющих, входящих в спектр сигнала. [40]
В табл. 5 приведены величины искажений и параметры решетки, а также Гкрит-температура, выше которой не наблюдаются искажения кубической решетки. [41]
Это означает, что величина аберрационных искажений сильно зависит от длины рабочего участка кристалла и при прочих равных условиях возрастает в области малых углов отражения. Качественно эти выводы хорошо согласуются с тем, что наблюдается в опыте. Конечно, нельзя ожидать количественного согласия выведенных в этом параграфе теоретических формул с экспериментально наблюдающейся шириной линии в спектрографах с изогнутым кристаллом, так как практически ширина линии должна зависеть также от дополнительных факторов, не учтенных при анализе фокусировки в идеализированной схеме спектрографа. Эти факторы будут рассмотрены в следующем параграфе. [42]
При укрупнении кристаллов уменьшается величина искажения решетки кристаллов, в результате чего уменьшается скорость роста их; чтобы продолжить дальше рост кристаллов, не-обходим дальнейший подъем температуры. Таким образом, рост кристалла зависит от температуры и степени совершенства решетки. [43]
Для установления износа и величины искажения геометрической формы деталей применяют различные контрольно-измерительные инструменты. Контроль особо ответственных деталей рекомендуется производить в условиях, близких к нормальным. При данной температуре осуществлена градуировка и аттестация всех линейных и угловых мер, а также измерительных приборов. Отступление от указанной температуры не должно превышать значений, предусмотренных для заданной точности измерения. Погрешность, обусловленная колебанием температуры, может быть определена как алгебраическая разность между полученным и действительным значениями измеряемой величины по формуле A / / ( cii. [44]
Качество выходного сигнала характеризуется величиной искажений, возникающих в приемнике при отсутствии помех. [45]
Страницы: 1 2 3 4