Cтраница 2
![]() |
Положительные расчетные направления волн напряжения и тока. [16] |
Таким образом, величина коэффициента отражения тока отличается от величины коэффициента отражения напряжения только знаком минус. [17]
Полученная формула связывает величину коэффициента отражения с сопротивлением нагрузки. [18]
Процесс контролируется по величине коэффициента отражения или пропускания слоев. [19]
Таким образом, на величину коэффициента отражения влияют однородность и плотность структуры волокна, а также характер, его поверхности. [20]
Таким образом, на величину коэффициента отражения влияют однородность и плотность структуры волокна, а также характер его поверхности. [21]
![]() |
Отражательная способность горных пород Текелийского. [22] |
Основным фактором, влияющим на величину коэффициента отражения, является цвет горных пород. [23]
![]() |
К выводу основного уравнения результирующего поля решетки. [24] |
Предположим также сначала, что и величина коэффициента отражения р постоянна для всех точек решетки. [25]
![]() |
Зависимости диэлектрической проницаемости пенополистирола от его плотности.| Структурная схема радиоволнового плотномера листовых диэлектрических материалов. [26] |
Амплитудно-фазовый метод использует функциональную связь между величиной коэффициента отражения от диэлектрического слоя и его толщиной. Принципиальная схема приведена на рис 17, а. Изменение величины коэффициента отражения, как правило, контролируется с помощью введения дополнительного опорного сигнала той же длины волны. Поэтому, применяя высокочувствительные мостовые СВЧ-схемы, осуществляют одновременный контроль модуля и фазы коэффициента отражения, несущих информацию об изменении толщины слоя. [27]
![]() |
Зависимость отраженного сигнала от толщины диэлектрического слоя, находящегося на металле, для различных расстояний ( мм между излучающей антенной и металлом. [28] |
Амплитудно-фазовый метод использует функциональную связь между величиной коэффициента отражения от диэлектрического слоя и его толщиной. Принципиальная схема приведена на рис. 17, а. Изменение величины коэффициента отражения, как правило, контролируется с помощью введения дополнительного опорного сигнала той же длины волны. Поэтому, применяя высокочувствительные мостовые СВЧ схемы, осуществляют одновременный контроль модуля и фазы коэффициента отражения, несущих информацию об изменении толщины слоя. [29]
![]() |
Зависимости диэлектрической проницаемости пенополистирола от его плотности.| Структурная схема радиоволнового плотномера листовых диэлектрических материалов. [30] |