Величина - отклонение - луч
Cтраница 2
При необходимости измерения осциллографом величины поданного на вход прибора постоянного напряжения отсчет величины отклонения луча из-за дрейфа усилителя должен производиться не ранее 20 сек от момента подачи напряжения. [16]
 |
Одна из конструкций электронного прожектора кинескопа. [17] |
Сравнивая формулы 21.1 и 21.4, можно заметить, что при магнитном управлении величина отклонения луча обратно пропорциональна У иаг, в то время как при электростатическом управлении величина отклонения обратно пропорциональна С / а2 - Это означает, что при магнитном управлении чувствительность к отклонению меньше зависит от величины ускоряющего напряжения, чем при электростатическом. [18]
При несимметричном включении обеих пар отклоняющих плас-гган отклонение луча второй ( верхней) парой пластин зависит от г величины отклонения луча первой ( нижней) парой пластин. В этом случае электростатическое поле у краев пластин имеет составляющую, параллельную плоскости пластины. Иными словами, г пластины горизонтального отклонения луча при несимметричном v включении вызывают дополнительное отклонение луча в вертикаль-i ном направлении. Дополнительное отклонение имеет место лишь нри прохождении луча у краев пластины, так как в средней плоскости силовые линии поля перпендикулярны к поверхности отклоняющих пластин и пластины горизонтального отклонения отклоняет луч только в горизонтальном направлении. Таким образом, дополнительное отклонение луча наблюдается в том случае, если луч леред входом в пространство между верхней парой пластин был предварительно отклонен нижней парой пластин. [19]
Таким образом, временная часть линейного элемента и часть, обусловленная неевклндовостью пространства, вносят одинаковый вклад в величину отклонения луча света, проходящего вблизи солнечного диска. Полное отклонение видимого положения звезды вдвое больше полученной величины, так как отклонение осуществляется симметричным образом по обе стороны от Солнца. [20]
 |
Шкалы экранов ЭЛТ некоторых типов осциллографов. а - шкала экрана С1 - 1 ( ЭМО-2. С - шкала экрана С1 - 4 ( ЭНО-1. [21] |
В этом случае чувствительность прибора будет соответствовать величинам, указанным на шкалах переключателей входных делителей, а величина измеряемого напряжения будет равна Произведению величины отклонения луча на чувствительность, указанную на шкале переключателя. [22]
 |
Структурная схема электронного осциллографа. [23] |
Исследуемое напряжение подается на вертикально-отклоняющие пластины ( вход У) через делитель напряжения, катодный повторитель и усилитель, с помощью которых устанавливается наиболее удобная для наблюдения величина отклонения луча. [24]
Другой тип калибровки в осциллографах типа О1 - 4 ( ЭНО-1) или С1 -: 8 ( УО-liM) состоит в том, что сначала чувствительность всего тракта вертикального отклонения приводится к определенным величинам, указанным на лицевой панели прибора, а затем величина отклонения луча в сантиметрах или миллиметрах, измеренная на экране трубки, умножается на чувствительность. [25]
 |
Мультивибратор с катодной связью. [26] |
В трубках с электростатическим отклонением луч по экрану перемещается электрическим полем конденсатора, образованного отклоняющими пластинами. Величина отклонения луча на экране трубки в миллиметрах, приходящаяся на 1 s напряжения, приложенного к отклоняющим пластинам, называется чувствительностью трубки. Последняя обычно приводится в справочных таблицах ( гл. Чувствительность трубки при прочих равных условиях обратно пропорциональна напряжению на втором аноде, поэтому с увеличением напряжения второго анода она уменьшается. [27]
Если предположить, что напряжение на пластинах изменяется по нек-рой синусоидальной кривой, а в то же время на пластинах временного отклонения () напряжение нарастает от нуля до нек-рого значения пропорционально времени, то луч, перемещаясь по флуоресцирующему экрану или по фотографич. Величина отклонений луча зависит от геометрич. [28]
Перед осциллографированием необходимо с помощью измерительных приборов определить порядок величин токов и напряжений, действующих в цепях, подлежащих осциллографированию, для правильного выбора типа шлейфа, добавочных сопротивлений и масштабов. Выбор величины отклонения луча производится в схеме, полностью собранной для осциллографирования, при пробных пусках привода, во время которых изменением с нуля напряжений, подводимых к шлейфам, определяется требующаяся величина отклонения луча для каждого шлейфа в отдельности. Градуировка шлейфов и определение масштаба при принятых сопротивлениях в их цепи производится от аккумулятора или батарейки. По данным градуировки находятся масштабы исследуемых величин. Для определения времени используется имеющийся в осциллографе отметчик времени или один из шлейфов подключается на сеть. В случае осциллографирования напряжения статора время процесса пуска может быть определено по этой осциллограмме. Перед съемкой и после выбора масштабов производится контрольная проверка всех шлейфов. [29]
При совпадении какой-либо из частот гармоник сигнала с частотой анализирующего контура наблюдается резкое ( в силу высокой добротности) увеличение колебаний в контуре и, следовательно, на экране осциллографа. Отношение амплитуд гармоник будет в точности соответствовать отношению величин отклонений луча осциллографа, а номер гармоники легко определить по шкале звукового генератора, зная основную частоту, или по фигурам Лиссажу на экране. [30]
Страницы: 1 2 3 4