Статистический разброс - значение
Cтраница 1
Статистический разброс значений К может и не быть связан с точностью дилатометрического метода, поскольку основные ошибки индивидуальных опытов тождественны. Поэтому необходимо определить точность метода, вычисляя интервал разброса данных, и отметить основные источники ошибок и их примерную величину. [1]
Ширина линии ЯКР определяется, как правило, беспорядочным статистическим разбросом значений градиента из-за дефектов и напряжений, возникающих в неидеаль-иых кристаллах, содержащих примеси. Температура заметно влияет иа частоту, ширину и интенсивность линий ЯКР. [2]
Получим ли мы в результате усреднения по двум изолированным отрицательно коррелированным прогонам меньший статистический разброс значений по сравнению со случаем, когда усреднение производится по результатам Т автокоррелированных наблюдений при одном прогоне. Ответ на этот вопрос зависит от того, в какой степени взаимно дополнительные случайные числа Ut и 1 - ut обусловливают отрицательную корреляцию. Следовательно, все зависит от характера самой имитационной модели и от кон - - кретных значений фигурирующих в модели параметров. [3]
 |
Зависимость / и сттот времени эксплуатации t ( 17ГС.| Изменение предела текучести о и ударной вязкости KCV при эксплуатации трубной стали 17ГС. [4] |
Однако следует отметить, что для объективной интерпретации подобных исследований по деформационному старению трубных сталей необходимо учитывать статистический разброс значений их свойств в исходном состоянии. Для иллюстрации сказанного на рисунке 3.17 приведены гистограммы разброса ог и ав для низколегированных сталей 09Г2С и 17ГС в исходном состоянии. [5]
 |
Зависимость ц / и от от времени эксплуатации t ( 17ГС.| Изменение предела текучести от и ударной вязкости KCV при эксплуатации трубной стали 17ГС. [6] |
Однако следует отметить, что для объективной интерпретации подобных исследований по деформационному старению трубных сталей необходимо учитывать статистический разброс значений их свойств в исходном состоянии. Для иллюстрации сказанного на рисунке 3.17 приведены гистограммы разброса ст, и ств для низколегированных сталей 09Г2С и 17ГС в исходном состоянии. [7]
 |
Распределение ядерного заряда атомов. [8] |
Помимо частоты ( рис. 31.10) характеристическими параметрами спектров ЯКР являются ширина линии Av и времена спин-спиновой и спин-решеточной релаксации. Ширина линии ЯКР определяется, как правило, беспорядочным статистическим разбросом значений градиента из-за дефектов или напряжений, возникающих в неидеальных кристаллах, содержащих примеси. Температура заметно влияет на частоту, ширину и интенсивность линий ЯКР. [9]
Подобно тому, как в случае броуновского движения статистический характер теплового движения молекул становится заметным только для очень малых частиц, статистика значений прочности может быть наглядно проверена на образцах достаточно малых размеров. Чем короче и тоньше стеклянные нити, тем большим для них оказывается статистический разброс значений прочности. [10]
Подобно тому, как в случае броуновского движения статистический характер теплового движения молекул становится заметным только для очень малых частиц, статистика значений прочности может быть наглядно проверена на образцах достаточно малых размеров. Чем короче и тоньше стеклянные нити, тем ббль-шим для них оказывается статистический разброс значений прочности. [11]
Разрушение поверхности стекла лазерным излучением происходит в общем вследствие тех же физических механизмов, что и объемное разрушение. Однако из-за значительно большей, чем в объеме, концентрации дефектов в приповерхностном слое наблюдается статистический разброс значений порога пробоя от образца к образцу даже при использовании одночастотного излучения с контролируемыми параметрами. В предпороговой стадии с поверхности наблюдается интенсивная электронная эмиссия. Пороги разрушения полированных поверхностей лазерных стекол, как правило, заметно ниже ( в 2 и более раз) порогов объемного разрушения. Большое значение имеет чистота поверхности стекла и качество ее полировки. Однако эта корреляция - повышение порога с уменьшением шероховатости - прослеживается только до средней высоты микрорельефа / г 50 А, а при меньших h отсутствует. Теории, удовлетворительно объясняющей все экспериментальные данные о порогах поверхностного разрушения стекол, пока не существует. [12]
Кроме измеряемых частот ЯКР, из которых определяют e2qQ и ц, характеристическим параметром этих спектров является также ширина линий Av. Она меняется от - 700 Гц ( для 14N) или - 1 кГц ( для 36С1) до - 50 кГц ( 93Nb), что составляет максимум. Ширина линии связана с временами релаксации Т - спин-решеточной и Т2 - спин-спиновой, представляющими во многих случаях специальный интерес. Кроме того, Av сильно зависит от дефектов и напряжений, а в неидеальных кристаллах и от содержания примесей, так как все это приводит к статистическому разбросу значений градиента поля. [13]
Страницы: 1