Разрешение - электронный микроскоп
Cтраница 1
Разрешение электронного микроскопа ограничивается в основном аберрациями электронных линз. Особенно важную роль играют хроматическая и сферическая аберрации. [1]
Размеры волокон синтетического хризотила лежат в пределах разрешения электронного микроскопа; остаются неизученными факторы, влияющие на увеличение длины волокон; полученный синтетический хризотил обычно представляет собой микроволокнистую массу. [2]
Малая длина волны электронов означает, что теоретический предел разрешения электронного микроскопа очень высок. Однако практически он не реализуется из-за дефектов электронной оптики - хроматической и сферической аберрации и астигматизма линз. [3]
Первоначально эти авторы интересовались электронной микроскопией и возможностями улучшить увеличение и разрешение электронного микроскопа оптическими методами. [4]
Таким образом, хотя X электрона в рассмотренном примере меньше X света примерно в 105 раз, разрешение электронного микроскопа лучше лишь в 100 раз Такое положение дел в действительности имеет место, так как из-за значительно худших оптических свойств электронной оптики по сравнению со световой в электронных микроскопах приходится работать с весьма малыми апертурами. Следует отметить, что поскольку с уменьшением апертуры аберрации уменьшаются, я втиянне дифракции увеличивается, при прочих равных УСЛОВИЯХ существует оптимальное значение апертуры, дающее максимальнее разрешение в данной конкретном системе. [5]
 |
Электронно-микроскопический снимок ультратонкой пленки платины. [6] |
На практике легко можно приготовить ультратонкие пленки со средним диаметром кристаллитов в интервале от нескольких нанометров вплоть до предела разрешения электронного микроскопа, составляющего около 0 5 нм. [7]
Так, при разности потенциалов 50 кВ ( что обычно применяется) длина волны электронов соответствует 0 54 10 - им. Теоретически оптимальное разрешение электронного микроскопа равно примерно 0 5 - 1 0 нм. В практической электронной микроскопии достигают разрешения порядка 5 0 - 10 0 нм, которое рассматривают как удовлетворительное среднее значение. [8]
Так, при разности потенциалов 50 кВ ( что обычно применяется на практике) длина волны электронов соответствует 0 54 - - 1 ( Н нм. Теоретически достижимое оптимальное разрешение электронного микроскопа составляет примерно 0 5 - 1 0 нм. В практической электронной микроскопии достигают разрешения порядка 5 0 - 10 0 нм, которое рассматривают как удовлетворительное среднее значение. [9]
Значительное увеличение разрешающей способности в микроскопе можно получить при использовании пучков быстролетящих в вакууме электронов. Принципиально разрешение электронного микроскопа могло бы превосходить разрешение светового микроскопа в сотни тысяч раз, так как эквивалентная длина волны для электрона Я, h / ( 2meU) W 12 3U1 - 2, где h - постоянная Планка; U - ускоряющая разность потенциалов. Однако разрешение определяется не только явлениями дифракции, но и различными аберрациями электронных линз, используемых для фокусировки электронных пучков. Эти аберрации полностью не коррегируемы, хотя и несколько исправляются, главным образом диафрагмированием и применением электронных пучков малых апертур. [10]
Наилучшее разрешение электронного микроскопа соответствует апертурному углу не более 10 2 рад. В этих условиях теоретический предел разрешения электронного микроскопа составляет 1 43 А. [11]
Наилучшее разрешение электронного микроскопа соответствует апертурному углу не более 10 - 2 рад. В этих условиях теоретический предел разрешения электронного микроскопа составляет 1 43 А. Практически на лучших электронных микроскопах с применением тонких и контрастных объектов можно достигнуть разрешение около 2 А, что почти в 500 раз больше разрешающей способности светового микроскопа. Это означает, что у объекта, едва различимого в световом микроскопе в виде точки, в электронном микроскопе можно рассмотреть 500 деталей в каждом из двух взаимно перпендикулярных направлений, а количество информации при этом увеличивается в 500 х 500 250 000 раз. [12]
Так как невозможно скомпенсировать сферическую аберрацию и, роме того, она не зависит от положения точки объекта в плоскости объектов ( это утверждение справедливо, даже если точечный объект расположен на оси), то сферическая аберрация является наиболее важной из всех геометрических аберраций. Она является одним из основных факторов, ограничивающих разрешение электронных микроскопов, так же как и размер электронного и ионного зондов. [13]
Труднее оценить плотность ЗГД, поскольку еще не до конца ясен механизм их исчезновения в границах зерен. К сожалению, эти оценки не удается сравнить с экспериментом, поскольку, как отмечалось выше, разрешение электронного микроскопа недостаточно для того, чтобы видеть ЗГД на обычных границах. Тем не менее проведенные оценки имеют важное значение для анализа свойств границ зерен при СПД. [14]
 |
Универсальный электронный микроскоп УЭМ-100. [15] |
Страницы: 1 2